一阶广义差分模型_微波射频差分探针去嵌入理论研究

摘 要

为了获得被测件( ＤＵＴ )准确的散射参数( Ｓ 参数)，研究了用于差分网络的去嵌入理论。在经典的差分探针结构的基础上，提出了一种可以抑制差分测试中共模信号影响的新型差分探针模型，即信号 － 信号探针( ＳＳ 探针)。并完成了直通 － 反射 － 传输线( ＴＲＬ )校准件和 ＤＵＴ的设计，推导了差分网络的多模去嵌入理论，编写算法并利用测试数据进行计算，仿真与测试结果表明在 ０～８ＧＨｚ 的频率范围内，去嵌入后的散射参数的幅度、相位与仿真结果一致性较好。

引 言

 

随着高频高速电路的快速发展，对电路在高频乃至微波频段的实际特性的掌握要求越来越高。尤其在对微波射频电 路 及 元 器 件 进 行 测 量 时，需 要 得 到 被 测 件 ( ｄｅｖｉｃｅｕｎｄｅｒ　ｔｅｓｔ ， ＤＵＴ )真实且精确的传输特性。推导出能够通过测量得到微波射频电路及元器件在片的实际传输特性的方法，尽可能避免测量过程中可能出现的误差，并对所提方法进行验证分析和扩展应用是当前该领域的研究热点。在片测试系统中，最常使用的是同轴线型的探针来连接测试仪器与被测件 。

一般情况下，同轴线型探针由同轴线的内导体向外延伸与被测件端口相连的电路连接，同轴线的外导体与测试电路的地相接。然而由此测试得到的数据是由探针、焊盘以及被 测 件 共 同 影 响 的 参 数 (通 常 是 微 波 网 络 散 射 参数( ｓｃａｔｔｅｒｏｍｇ　ｐａｒａｍｅｔｅｒ ，Ｓ参数))，如何去除探针和焊盘的影响，消除测量误差，得到 ＤＵＴ 真实的特性参数，是微波射频测量技术发展所必须解决的问题，也是本文需要研究的重点。本文研究了用于差分网络的去嵌入理论。在经典的差分探针结构的基础上，提出了一种可以抑制差分测试中共模信号影响的新型差分探针模型。并完成了直通 －反射 － 传输线( ｔｈｒｕ － ｒｅｆｌｅｃｔ － ｌｉｎｅ ， ＴＲＬ )校准件和 ＤＵＴ 的设计，推导差分网络的去嵌入理论并编写算法进行计算，实验结果表明待测件的去嵌入结果与仿真结果一致。

１　 差分网络多模式混合Ｓ参数

Ｓ 参数原本是为单端网络定义的，但 Ｂｏｃｋｅｌｍａｎ 等研究了如何使单端 Ｓ 参数适用于差分电路，研究了用于解决差模和共模工作的差分电路的“混合Ｓ参数”，以及两种工作模式之间的转换关系。

由差模波和共模波的定义，可以将差分线的混合模 Ｓ参数定义为：

式中：上标 ｄ 、 ｃ 表示模式， ｄ 代表差模， ｃ 表示共模；下标 ｉ 、ｊ 表示差分网络两侧的广义端口；分别表示纯差模和纯共模的Ｓ参数；表示差模和共模相互转换的Ｓ参数，其中表示端口 ｊ 到端口 ｉ 的差模到共模的转换，表示端口 ｊ 到端口 ｉ 的共模到差模的转换。因为实际情况的差分电路难免存在不平衡性，模式转换参数必然会存在  。将方程组(１ )改写为矩阵形式：

其中，

出射波 ｂ 具有与上式相同的结构，因此，令：