原标题:干货 |西努妙解 iPhoneX OLED全面屏的检测方法
自从苹果推出了采用OLED全面屏的iPhone X的之后,OLED全面屏已经彻底被引爆。在AMOLED面板领域内,现阶段三星占据了90%以上的市场份额,是主要的供货商,但LG、京东方、天马等等面板厂商在目前也已经有了量产的能力。
OLED的原文是Organic Light Emitting Diode,中文意思就是“有机发光显示技术”。其原理是在两电极之间夹上有机发光层,当正负极电子在此有机材料中相遇时就会发光,其组件结构比目前流行的TFT LCD简单。除自身发光的特性外OLED还有许多优势:产品厚度更薄,能耗更低,反应时间及色彩还原都比TFT LCD出色,更有可弯曲的特性,让它的应用范围极广。
下面我们就OLED相关关键工艺检测进行阐述:
1、ITO目前已广泛应用在商业化的显示器面板制造,其具有高透射率、低电阻率及高功函数等优点。利用射频溅镀法(RF sputtering)所制造的ITO,易受工艺控制因素不良而导致表面不平整,进而产生表面的尖端物质或突起物。另外高温锻烧及再结晶的过程亦会产生表面约10 ~ 30nm的突起层。这是我们建议使用OLYMPUS LEXT OLS4100激光共聚焦扫描显微镜对ITO玻璃基板平整度进行扫描检测,以减少短路的风险,提高OLED产品稳定性。
2、OLED器件制备中不使用金属模板,而是在基板上制作绝缘的间壁,最终实现将器件的不同像素隔开,以实现像素阵列。隔离柱基本制程是在透明基片上旋涂第一层光敏有机绝缘材料,厚度为0.5~5μm,曝光图形为网状结构或条状结构,显影后线宽为10~50μm;再在有机绝缘材料上旋涂第二层光敏型有机绝缘材料,膜厚为0.5~5μm ,一般为光刻后线条横截面能形成上大下小倒梯形形状的光刻胶中的一种,曝光图形为直线条,显影后的线宽为5~45μm。
由于隔离柱不但可以解决相邻像素间短路的问题,同时其线条的宽度也决定着显示分辨率的高低,所以其尺寸管控亦非常严格。我们推荐使用OLYMPUS LEXT OLS5000 3D测量显微镜或STM 7工具金相显微镜对其进行观察、测量。
3、由于OLED屏采用了与LCD屏不同的有机发光材料,所以在检测时推荐使用OLYMPUS MX系列荧光显微镜来对产品进行检测。
4、ACF导电粒子进行检查也是不可或缺的重要步骤,需要在配置DIC器件的金相显微镜下观察:主要是观察导电粒子的数量及导电粒子的破裂情况,OLYMPUS MX系列金相显微镜是您的首选。
5、线路的缺陷也会对OLED器件稳定性带来隐患,同样需要进行检测。
6、由于OLED器件较LCD更加纤薄,其中各层之间的间隔与层厚也变得更薄,如何有效的切割制备并对其进行观察,对此各个厂商也在寻找更好的解决方案。我们推荐使用的日立离子研磨仪IM4000具有加工效率高,低损伤等特点再配合SU8010电镜可对器件层厚进行快速、高效的检测。
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