verilog学习（7）实战之扫描链

一：可侧性设计简介（DFT）

1：什么是可测性？

　　相当于debug中给程序段加入断点。

　　设计工具自动将扫描插入到设计中，在设计通过仿真后，在设计阶段的后期，扫描被插入到设计中。扫描的目的是未来观察一个设计或者是整个芯片的内部变化。

2：JTAG

　　用一组特别的测试端口来控制扫描操作，这组端口被称为JTAG。

二：简单扫描举例

　　我们在实战一中加入扫描链

1：在Intro_Top中加入JTAG测试端口，加入5个1比特端口，先不连接它们，这5个端口分别是：ScanMode,ScanIn,ScanOut,ScanClr,ScanClk

2:  在Intro_Top(顶层设计)中的每一个I/O路径都插入D触发器，但JTAG的I/O除外

　　

3：在testbench里给ScanClk和ScanClr添加驱动，即赋值

以上即可简单实现扫描链，也简单呈现了扫描链的大致情况，下面是拓展

4：加入多路选择器来去除所有的同步行为，一个ff寄存器上被加上了两个多路选择器

　　

 

　　

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