可测性设计---扫描链

最新推荐文章于 2023-07-10 04:30:11 发布
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分类专栏： 集成电路安全
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带选择端的扫描单元及结构
在这里插入图片描述

在这里插入图片描述
扫描模式是扫描组合逻辑电路正常工作时的状态数值；
扫描链的捕获模式是什么意思？
是指从Scan_in端输入数值，检测最后输出结果么？还是说捕获模式时Scan_in端不输入信号处于空置状态，同时扫描使能信号无效，此时输出这一瞬间的组合逻辑电路数值？

在扫描单元的基础上扩展，又有内建自测和边界扫描设计，以后再补充

参考在这里插入图片描述

qq_43280644
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【PCB专题】可测试性设计（Design for Test）
一点硬件
06-24 610
对于设计工程师来说，设计一块 PCB 需要经过许多步骤和个版本的迭代，付出大量的时间和工作。如果能在设计周期的早期阶段实施适当的可测试性设计 (DFT)，那会有助于我们项目成功。
数字 IC 技能拓展（29）浅谈 DFT 与扫描链
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10-03 7605
数字 IC 技能拓展（29）浅谈 DFT 与扫描链
VLSI Basic1——Scan Chain Reordering
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03-30 2485
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DFT设计 与 芯片测试 ；Scan Chain； DC里的DFT的扫描链设计； 存在异步复位触发器时的扫描链设计；Scan-In Scan-Out
最新发布
Jie_MSD的博客
07-10 7894
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DFT scan chain
weixin_34178244的博客
03-29 3290
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Scan technique (扫描链插入)的一些学习总结
m0_49540263的博客
03-11 3391
Scan technique的原理及过程 1.标准单元替换 即将标准的DFF转换为SFF，目前MUX-DFF是最常用的扫描结构。另外还有双端口clock scan，LSSD 电平敏感设计，但是很少用。 2.扫描链连接 没啥说的，就是连起来。 注意事项 1.同一个设计中有positive和negative的时钟 针对这个设计，DFF+ /DFF- 分别代表上升沿触发和下降沿触发的D触发器，如果在插扫描链的过程中要将他们连成一条链，该怎么办？会是如下的哪种状况呢？ 正沿在前 负沿在后. 负沿在前 正沿
16位定点DSP“ES51D16”的可测性设计-综合文档
05-21
在本文中，我们将深入探讨16位定点数字信号处理器（DSP）——ES51D16的可测性设计。16位定点DSP是电子工程领域中的一种关键组件，广泛应用于音频处理、图像处理、通信系统以及其他需要高效计算能力的嵌入式应用中。...
集成芯片的可测性设计技术
11-10
可测性设计(DFT, Design for Testability)技术是针对集成芯片测试难题而提出的一种解决方案。随着芯片集成度的不断提升，测试成本增加，测试效率成为影响产品上市时间和经济效益的关键因素。传统的测试方法难以应对...
芯片封装与测试 可测试性基础－讲稿.docx
07-09
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12-21
集成电路测试与可测试性设计是电子工程领域中的重要环节，它涉及到集成电路产品的质量和可靠性。测试确保了集成电路在生产过程中无缺陷，而可测试性设计则是为了简化和优化这一过程。本章将深入探讨以下几个关键知识...
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一：可侧性设计简介（DFT） 1：什么是可测性？ 　　相当于debug中给程序段加入断点。 　　设计工具自动将扫描插入到设计中，在设计通过仿真后，在设计阶段的后期，扫描被插入到设计中。扫描的目的是未来观察一个设计或者是整个芯片的内部变化。 2：JTAG 　　用一组特别的测试端口来控制扫描操作，这组端口被称为JTAG。 二：简单扫描举例 　　我们在实战一中加入扫描链 1：在Intro...
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SCAN 原理小节
renfengjun
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产品包需求之可测试性需求
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学习IPD流程，目前遇到概念阶段文件，产品包需求可测试性需求如何编写？ 可测试性需求文件概述产品主要进行哪些测试，可以从“测试需求集”（需要企业长期积累而得到）中裁减而来。 目前可测试性需求一般有以下几方面考虑： 1、面向产品的可测试性需求，该需求为了提高产品的故障检测定位和隔离能力而考虑的可测试性需求，直接影响产品问题故障监测定位和隔离的难易程度。面向产品的可测试性需求在评审通过后将...
SOC Scan Synthesis practice（扫描链scan chain分析）
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信号扫描_多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用
weixin_42303723的博客
01-14 728
针对芯片中功耗高、测试成本较高的问题，福州大学物理与信息工程学院的研究人员向韬鑫、王仁平、刘东明、陈荣林，在2020年第6期《电气技术》杂志上撰文，以一款乘加器为例，该乘加器可以切换在乘、加、乘加3种工作状态。在芯片设计过程中，利用统一标准格式技术实现多电压设计达到低功耗的效果，利用扫描链技术，完成可测试性设计，降低芯片的测试成本，并解决了两种技术的兼容性问题。5G通信和物联网时代即将到来，各类芯...
如何提升软件的可测试性架构设计
企业敏捷与DevOps专栏
07-26 1692
在软件研发过程中需要单元测试、集成测试、用户验收测试等一系列的测试，然而我们遇到的很多软件由于在系统设计的时候没有考虑可测试性，经常会使人工测试变得很艰难，更难说有效实现自动化测试。那么如何提高软件的可测试性，从而实现有效的单元测试自动化、接口测试自动化？ 任何软件都需要测试，没有测试过的代码是不可靠的，也是不安全的，但是软件代码测试起来并不容易。通常情况下软件应用越容易测试投入的成本将会越少，...

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