Verilog编程艺术(3)——第四部分高级设计

CHN_Joker

已于 2022-06-22 19:00:31 修改

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分类专栏：读书笔记文章标签： fpga开发

于 2022-06-22 08:55:02 首次发布

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Verilog编程艺术(3)

状态机设计(FSM)

状态机类型

状态机通常分为两种类型：Moore 和 Meadly。
对于Moore FSM，输出是当前状态的函数；
而对于Meadly FSM，输出则是当前状态和输入的函数。

状态机编码方式

FSM的状态编码通常分为两种：二进制(Binary) 和独热码(One-hot)。
在二进制编码的 FSM 中，用于状态编码的就差年起个数只需要满足能够把FSM的状态编码出来即可，即等于clog2(number_of_states)，就是对状态数目取以2为底的对数，然后再向上取整。
在独热码编码的 FSM 中，每一个状态对应一个寄存器，而且在任意时刻只能有一个寄存器被置位，以表示当前状态(Hot状态)。
例如对于一个有16个状态的 FSM，二进制编码需要4个寄存器，而独热码需要16个寄存器；但是FPGA Vector推荐使用 One-hot FSM，因为在FPGA中寄存器资源丰富且One-hot FSM 较 Binary FSM运行得快。

Binary FSM

（1）FSM设计的最好方法是使用两个 always 块：一个用于时序状态寄存器；另一个用于组合状态逻辑，计算下一个状态(Next)和输出逻辑(Output logics)。
（2）重要的编码规则

  1.在模块内使用 localparam 定义状态编码，并且使用这些编码而不是使用这些编码的数值。
  2.在 localparam 之后声明 state 和 next 变量。
  3.在时序 always 块中使用非阻塞幅值。
  4.在组合 always 块中使用阻塞幅值。
  5.在组合 always 块中使用 always@(*) 语句，简化代码设计。
  6.在组合 always 块的上部，把默认值赋值给next和变量。在case语句内，只有把当输出赋值不是默认值时，输出赋值才需要做出改变。这样可以避免生成Latch，可以减少case语句中逻辑的数量，可以强调case语句中每个输出的变化。
  7.对于状态转换图中的每个转换(if、if-else或else)，在组合 always 块都要有对应的if-else语句，要数目相等、逻辑一致。
  8.为了便于阅读和调试，所有的next赋值要对齐到同一列上，可以通过空格的方法实现。

（3）在always块敏感列表下，把默认值赋值给next是最有效的编码风格，然后在case语句中再把next更改为其他值。一般来说，next的默认赋值有以下三种。

  1.赋值为 x (Unkown)，便于调试。
  2.赋值为当前的状态 state，可以减少代码的书写。
  3.赋值为一个预定的恢复值(Prederermined recovery)，如IDLE。

One-hot FSM

独热码编码FSM是高效的，小且快。其使用反向case的编码方法，就是在case的头部使用case(1’b1)语句，每个case item则是一个用于判断true或false的表达式。
独热码编码FSM最关键的要点是localparam不是表示状态的编码，而是表示状态向量的索引。注意，对于state和next向量，case对 One-hot状态的比较和赋值都是针对1-bit的。

寄存器输出

在 FSM 设计中使用寄存器输出可以保证输出没有毛刺，而且通过把模块的输入和输出约束标准化，可以得到更好的综合结果。
在两个always块中，加入第3个always时序块来实现寄存器输出，就是在时序有效沿处依据next的值，产生输出赋值。

可配置设计

可配置模块的设计方法如下

  1.使用 parameter 和 'define。
  2.使用for语句生成多条语句。
  3.使用generate、for、if等语句生成多条语句和多个实例化。
  4.通过工具或脚本生成配置参数。
  5.通过工具或脚本直接生成Verilog代码。

注意：书中这部分的例子很有价值，值得阅读和复现。

ABM设计

在设计BusMatrix(高效的片上总线架构)的时候，需要考虑下面的一些特点。

  1.输入输出端口的数目会产生变化，例如增加1个master，减少2个slave。
  2.每个master对这些slave都有不同的访问权限，而且在设计期间master对slave的访问矩阵会随时发生变化。
  3.当多个master同时访问同一个slave时,那么这些master就有优先级的关系,优先级高的master先执行。

注：在设计系统是这些变化随时会发生，当有变化时，我们应该马上产生新的BusMatrix。
另外，也要考虑把这个BusMatrix生成系统做成IP，这样可以方便维护和移植。

可测性设计(DFT)

可测性包括两个方面：一是可控制性(Controllability)，即使为了检测处故障和缺陷，能否方便地对集成电路施加测试向量；另一个是可观性(Observablity)，就是能否容易地对集成电路查看测试结果。

内部扫描

内部扫描通过在设计中插入扫描链(Scan chain),检测芯片内短路、开路、连线和器件延迟等缺陷。内部扫描可以减少芯片的测试成本，是目前最理想的结构故障测试手段。
内部扫描既可以自动生成测试向量（Automatic Test Pattern Generation,ATPG),也可以预测测试故障覆盖率(Fault coverage)。这样设计者就可以创建高度可测的设计，同时又不需要花费大量的工程精力和测试时间。EDA工具能够自动地为设计插入内部扫描，如Synopsys的DFT Compiler。EDAI具也能够自动地为内部扫描生成测试向量，如Synopsys的TMAX。
内部扫描要求每个时序单元(F1ip-fo即)处于可控制和可测试的状态。只有这样才能把它替换成应的扫描单元，才能保证测试故障覆盖率。为了保证电路中的每个时序单元都符合要求，在插入链之前要做设计规则检查(Design Rule Check,DRC),为了可控制和可观测，内部扫描把设计中的时序单元替换为可串行移位的时序单元，这样就在规很少的写引脚（I/O)情况下增强了内部单元的可控制性和可观测性。

支持扫描的时序单元被串接到一起，形成一条或多条串行移位寄存器，称为扫描链。扫描链中的时序单元是扫描可控的和扫描可观测的。
扫描可控是指时序单元可以被串行移位入一个指定值，ATPG工具认为扫描可控的单元是pseudo-primary inputs。
扫描可观测是指时序单元的值可以被串行移出并被观测到，ATPG工具认为扫描可观测的单元是pseudo-primary outputs。
内部扫描会使芯片的面积和功耗有稍微的增加，会使性能有一些稍微的降低，但是DFTCompiler会努力减少这些影响。
内部扫描通过把复杂的时序逻辑分割成隔离的组合单元块(full-scan设计)或半隔离的组合单元快(Partial-scan设计)，简化测试向量的生成。在full-scan设计中，所有的时序单元都被替换成可串行移位的时序单元，那些不能被扫描的时序单元则被当做黑盒子。

在做内部扫描测试的时候，一般也做IDDQ测试。IDDQ测试的原理就是检测CMOS电路静态时的漏电流(Leakage current),电路正常时静态电流非常小(nA级)，电路存在缺陷时（如栅氧短路或金属线短接)静态电流就大得多。如果用DDQ方法测出某一电路的电流超常，那么就意味着此电路可能存在缺陷。DDQ测试并不能代替功能测试，一般只作为辅助性测试。DDQ测试也有其不足之处，一是需要选择合适的测量手段，二是对于深亚微米技术，由于亚阈值元件的增加，静态电流已经高得不可区分。

我们在设计功能逻辑RTL的时候，就要考虑到内部扫描测试，要为它们添加旁路(Bypass)逻辑和停止逻辑，这样就可以在综合和STA的时候考虑到这些电路对时序和面积的影响。

  1.要能控制所有寄存器的时钟和异步复位，所以要把时钟和复位信号旁路连接到外部引脚上。
  2.要让Hard Macro进入停止状态。例如，让RAM和ROM的CEN处于无效状态，让PLL、CODEC和USB PHY等处于停止状态。这样在测量IDDQ时，IDDQ才能准确地反映芯片的静态电流。
  3.不要把时钟信号当做触发器的输入信号使用，不要让三态总线出现冲突。

内建自测

内建自测就是BIST(Built–in Self Test),在设计的芯片中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷和故障。和内部扫描不同的是，内建自测的测试向量一般是由内部自动生成的，而不是从外部输入的。内建自测可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和ATE设备，但它也增加了芯片的面积和设计的。
BIST常用于内存(Memory)的测试。

边界扫描

边界扫描就是BSD(Boundary Scan Design),是为了解决PCB上芯片间互连测试而由JTAG(Jiont Testable Action Group)提出的一个解决方案。l990年正式被EEE采纳成为一个标准，即EEE1149.1,该标准规定了边界扫描的测试端口、测试结构和操作指令。
边界扫描的基本原理是在器件内部的核心逻辑与I/O引脚之间插入边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量以串行扫描的方式输入，对相应的引脚状态进行设定，实现测试矢量的加载；通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出，进行数据分析与处理，完成电路系统的故障诊断及定位。BSD生成工具主要有Mentor Graphics BSD Archit和Synopsys BSD Compiler等。