c语言测试芯片好坏

问题描述
有n个（2<n<20）芯片，好的或坏的，并且有比坏的芯片更多的已知的好的芯片。
每个芯片都可以用来测试其他芯片。当用一个好的芯片测试其他芯片时，它可以正确地给出被测芯片是好是坏。当用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好的或坏的测试结果（也就是说，这个结果与被测芯片的实际质量无关）。
给出所有芯片的测试结果，并询问哪些芯片是好的芯片。
输入格式
输入数据的第一个动作是一个整数n，它表示芯片的数量。
n+1的第二行是行为n*n表，每行有n个数据。表中的女生化妆每个数据都是0或1。第i行第j列（1<i，j<n）中的数据表示用i块芯片测试j块芯片时得到的测试结果。1代表好，0代表坏，i=j总是1（不代表芯片本身的测试结果）。芯片不能自我测试。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的数量。
样本输入
三
一百零一
010
一百零一
样本输出
十三
C语言参考答案：
包括：
#定义最大值20

In main（）
{
int n，text[20][20]，i，j，s；//s是坏芯片的数量
scanf（“%d”，&n）；

如果（n>=2&&n<=20）
{
对于（i=0；i<n；i++）
{
对于（j=0；j<n；j++）
{
scanf（“%d”，&text[i][j]）；
}
}
//清除坏芯片，留下好芯片
对于（j=0；j<n；j++）
{
S＝0；
对于（i=0；i<n；i++）
{
S+=文本[I][J]；
}
如果（S＞N／2）
printf（“%d”，j+1）；

}
}
返回0；
}

摘录：
以下两个结论是有用的。首先列出它们。

如果你随机抽取两片芯片进行测试，会有
1）如果结果为真，则两者均为真或假。
2）对于其他结果，至少有一个是错误的。

在任何偶数芯片中，如果好的芯片比坏的芯片多，那么所有的芯片都分为两组。根据抽屉原理，有
1）一组必须有两个好的芯片。
2）好芯片的数量必须大于坏芯片的数量。

测试流程
1）将芯片分为1和2、3和4组。2K-1和2K。如果我们互相测试，我们必须得到与真实组相同的结果。
2）保留与真实组相同的结果并丢弃其他组。好芯片组肯定比坏芯片组多。（因此，当只有两个或更多组为真时，它们必须为真，测试结束）
3）如果结果是真的，芯片将是好的或坏的，因此一半可以丢弃。从所有同一个真实组中，任意取出一个，丢弃另一个，组成一个新的测试组，继续两组或两组，直到同一真实组只有两个或一个测试，坚持到最后才是好的芯片。

解释：同一个真实的群体可能会变得奇怪。当为奇数数组时，选择任意一组（假定为A）和剩余一组进行测试A，如果测试结果A大于或等于芯片的一半，则A更好，测试结束。否则，A是一个坏芯片。如果A是一个好芯片，它一定是一个坏芯片。拆下其余零件后，将形成一个新的测试组，并将继续进行两个或两个组。

总的原则类似于淘金热。一开始有很多好的筹码。当我们取出芯片时，我们必须确保坏芯片的数量必须大于或等于好芯片的数量。这样，我们就可以确保剩余芯片中好芯片的数量大于坏芯片的数量。当组数为奇数时，超过一半的投票有效（同样有效，因为好大于坏，所以相等必须是好的）。

因为一次至少移除一半的芯片，最坏的情况是每次只移除一半的芯片，并以相等的比率减少。当有n个芯片时，测试次数为n+（n/2）+（n/4）…=2n。
特赦

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