芯片测试(c语言)

【问题描述】

有n(2<=n<=20)块芯片,已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好还是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。

给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

【输入格式】

输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1<=i,j<=n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

【输出格式】

按从小到的顺序输出所有好芯片的编号。

【样例输入】

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

【样例输出】

1 3

【思路】

本题的逻辑就是先找出出现最多次数的一维数组。无论是奇数还是偶数,好芯片出现的最少次数都应该是n/2+1.找到之后,再输出这些相同的一维数组下标+1.

逻辑还是比较简单的,但是实现起来还是比较繁琐的。

可以看代码注释。

#include<stdio.h>
int main(){
	int n,i,j,N[20][20];
	scanf("%d",&n);
	for(i=0;i<n;i++){        //先输入
		for(j=0;j<n;j++){
			scanf("%d",&N[i][j]);
		}
}
	int num;        //用来检测该芯片是好芯片的变量
	for(i=0;i<n;i++){        //从前往后依次检测,出现好芯片就终止循环
		num=1;
		for(j=0;j<n;j++){        //和其余的检测数据进行对比
			if(j==i){
				continue;
			}
			int sign=0,x;
			for(x=0;x<n;x++){        //对比的具体代码
				if(N[i][x]!=N[j][x]){
					break;
				}
			}
			if(x==n){
				num++;        //数据相同,则加一
			}
		}
		if(num>=(n/2+1)){        //符合好芯片的条件
			printf("%d",i+1);
			for(j=0;j<n;j++){
				if(j==i){
				continue;
			}
			int sign=0,x;
			for(x=0;x<n;x++){        //输出好芯片的编号
				if(N[i][x]!=N[j][x]){
					break;
				}
			}
			if(x==n){
				printf(" %d",j+1);
			}
		}
		break;
		}
	}        //这种输出方式可以在最后不会多输出空格
	return 0;
}

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