蓝桥杯 BASIC-23 基础练习 芯片测试

基础练习 芯片测试  

时间限制：1.0s  内存限制：512.0MB

 

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

 

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。

 

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

 

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

 

样例输出

1 3

 

#include <stdio.h>

int main()
{
    int n;
    int test[22][22] = { 0 };

    scanf("%d", &n);
    for (int i = 0; i < n; ++i)
        for (int j = 0; j < n; ++j)
            scanf("%d", &test[i][j]);

    for (int j = 0; j < n; ++j)
    {
        int cnt = 0;
        for (int i = 0; i < n; ++i)
            if (test[i][j] == 1)
                cnt++;
        if (cnt > n / 2)
            printf("%d ", j+1);
    }

    return 0;
}