用NI的数据采集卡实现简单电子测试之4——半导体温度传感器

本文从本人的163博客搬迁至此。

为了展示NImax（Measurement & Automation explorer）的强大配置功能，做了一个半导体温度传感器测试的示例。

一、半导体温度传感器

半导体温度传感器 （semiconductor transducer ）利用半导体材料的物理特性制成的温度传感器。其优点在于：灵敏度高、体积小、响应速度快和成本低等；缺点是测量范围较窄，精度不高等。早期的半导体温度传感器需要配备辅助电路，线性不佳，且整个测量系统需要标定后方可使用，应用不方便。但各大半导体公司推出的新型温度传感器，一般经过线性校正，且采用电压直接输出，极大地简化了温度的测量步骤。

半导体温度传感器可大致分为"数字接口"和"模拟接口"两大类，常见的DS18B20就属于数字接口类，这里为了展示USB-6009的模拟测试功能，选择模拟接口类型的MCP9700。MCP9700的灵敏度达到10mV/℃，具有非常优异的线性，且可以直接测量0℃以下的温度。MCP9700典型的温度——电压关系如下图所示：

图1 MCP9700输出电压和温度对应曲线

二、测试电路

由图1可知，在