ddr读时序波形_测试新体验|如何解决DDR内存系统测试难题?

本文介绍了DDR内存应用的现状和测试难点,特别是DDR3内存。泰克提出了一套测试方案,包括MSO64B示波器在内的系统,能够自动完成突发信号分离、CMD总线解码等,支持DDR3一致性测试,并提供便利的测试报告和极限测试功能。该系统适用于DDR/LPDDR的研发、调试和验证环节。
摘要由CSDN通过智能技术生成

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DDR应用现状

随着近十年以来智能手机、智能电视、AI技术的风起云涌,人们对容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高,DDR SDRAM也不断地响应市场的需求和技术的升级推陈出新。

目前,用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已经演进到了DDR5了,但市场上对经典的DDR3 SDRAM的需求仍然比较旺盛。

测试痛点

测试和验证电子设备中的DDR内存,客户一般面临三大难题:

  1. 1.如何连接DDR内存管脚;
  2. 2.如何探测和验证突发的读写脉冲信号;
  3. 3.配置测试系统完成DDR内存一致性测试。

泰克测试方案

为解决研发人员在DDR内存系统研发、调试和验证测试的难题,推荐配置基于MSO64B示波器的内存调试及一致性测试系统,主要功能如下:

-完整的覆盖DDR3和LPDDR3规范测试的项目

--自动实现突发Write/Read信号分离,可以在同一次采集数据中完成参数测试;

-对控制器端可以自定义修改电平门限,适用不同存储接口的设计;

-支持CMD总线解码,更加直观的反应内存总线读写时序;

-同时兼顾标准化测试和单项调试,可以用于产品调试和验证环节;

-自动生成一致性测试报告&#

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