ddr读时序波形_DDR3时序测试,信号完整性测试

本文详细介绍了DDR总线的体系结构,重点讨论DDR3时序测试和信号完整性测试,包括DQS与DQ的同步、地址/命令总线的操作以及数据总线的测试内容。通过示波器进行测试分析,确保高速DDR总线的正确运行。

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DDR总线的体系结构。其中DQS是源同步时钟,在接收端使用DQS来读出相应的数据DQ,上升沿和下降沿都有效。DDR1总线,DQS是单端信号,而DDR2&3,

DQS则是差分信号。DQS和DQ都是三态信号,在PCB走线上双向传输,读操作时,DQS信号的边沿在时序上与DQ的信号边沿处对齐,而写操作时,DQS信号的边沿在时序上与DQ信号的中心处对齐,参考图2,这就给测试验证带来了巨大的挑战:把“读”信号与“写”信号分开是非常困难的!

Addr/Cmd Bus意思是地址/命令总线,都是时钟的上升沿有效,其中命令由:/CS(片选),/RAS,

/CAS,/WE(写使能)决定,比如:“读”命令为:LHLH,“写”命令为:LHLL等。操作命令很多,主要是NOP(空超作),Active(),Write,Read,Precharge

(Bank关闭),Auto

Refresh或Self

Refresh(自动刷新或自刷新)等(细节请参考:Jedec规范JESD79)。Data

Bus是数据总线,由DQS的上升沿和下降沿判断数据DQ的0与1。

DDR总线PCB走线多,速度快,时序和操作命令复杂,很容易出现失效问题,为此我们经常用示波器进行DDR总线的信号完整性测试和分析,通常的测试内容包括:时钟总线的信号完整性测试分析;地址、命令总线的信号完整性测试分析;数据总线的信号完整性测试分析。下面从这三个方面分别讨论DDR总线的信号完整性测试和分析技术。

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