结构光测距相位差_激光测距原理介绍

激光测距仪用激光测量距离,TOF摄像头利用光来对物体进行测绘,他们的测量依据都是光的飞行时间(TOF)来实现测量目的。下面我们来做个计算:

假如我们需要10mm的测量精度,那么,我们就需要知道光飞行10mm需要的时间:

t = 0.01/(3*10^8) = 3.3 * 10^(-11) = 33pS

按照目前的技术,我们很难对这么高精度的时间进行直接测量。我们虽然不擅长测量时间,但是却擅长测量电压,于是人们把发射光调制成一个固定频率的方波:发射信号->激光二极管->飞……行……返……回->雪崩二极管->返回信号。当光束返回时,由于经历了飞行时间,其相位相对于发射光发生了延迟:

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可以看出,距离越远,光的飞行时间越长,叠加信号的占空比越大,即平均电压越大,当发射信号与返回信号相位差达到180度时,异或叠加的信号全部为高电平,此时,测量仪达到满量程(思考一下距离超过满量程会发生什么?)。接下来我们只要对异或叠加的信号做一个滤波平均值电路,然后对它进行A/D采样,即可计算他的占空比,进而推算出距离。

下面举例说明:

假如发射信号的频率为1MHz,占空比50%(周期1uS),那么,当相位差达到180度时,光的飞行时间为:

t = 1/1000000 * 0.5 = 0.5uS

此时光的行程:

s = c*t = (3*10^8) * (5*10^(-7)) = 150m

距离:

d = s/2 = 75m

测量精度取决于A/D采样的位数,例如,当A/D采样为16位时,理论测量精度:

delta = 75 / 65536 = 0.0011m = 1mm。

可以看出,当调制频率升高时,测量精度也会增加,同时,量程会缩小。

实际上,类似这种对被测量信号进行转换的应用很常见,例如电磁波雷达、超声波雷达,锁相环PLL等,有兴趣可以详细了解。

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结构中的相位原理结构相位法是一种三维测量技术,它利用了学干涉的原理,通过对被测物体的表面进行投影、接收和计算,获取其表面的三维形状信息。具体原理如下: 1. 投影:将一束源(如激)通过一种特殊的栅,使得源被分成了多个等间距的斑,并形成了一条或多条纹。 2. 接收:在被测物体的表面上放置一台相机,用于记录纹在物体表面上的投影图像。 3. 计算:通过对斑在相机拍摄的图像中的位置、形状和大小等信息进行分析和计算,得到被测物体表面的三维形状信息。 结构相位法的优缺点: 优点: 1. 非接触式测量:结构相位法不需要接触被测物体,因此可以避免对被测物体造成损伤或污染。 2. 高精度:结构相位法可以达到极高的测量精度,可以实现亚微米级别的测量。 3. 快速测量:结构相位法可以在数秒内完成对一个物体的三维测量,因此适用于大批量产品的质量检测。 4. 可视化:结构相位法可以将被测物体的三维形状信息以可视化的形式表现出来,便于分析和理解。 缺点: 1. 受环境影响:结构相位法对环境非常敏感,如果环境过强或过弱,会影响测量的精度和准确性。 2. 复杂性:结构相位法的实现需要使用学和计算机等多个领域的知识,因此对于非专业人员来说,实现和操作都比较复杂。 3. 有死角:结构相位法只能在斑照射到的表面上进行测量,因此对于被测物体表面上存在阻挡的情况(如凹槽、孔洞等),会形成死角,无法进行测量。

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