如果常数项没有经过显著性检验_Cg,Cgk 能代替偏倚显著性检验?

本文探讨了MSA中的偏倚和Cg, Cgk量具能力指数。Cg是量检具重复精度能力,Cgk是准确精度能力。相较于偏倚显著性检验,Cg/Cgk更考虑实际应用中的公差要求。当量具精度变化时,偏倚检验的难度也会随之改变,因此在某些情况下,Cg, Cgk可作为偏倚检验的替代方案。" 114162561,10543588,C#读取DWG文件缩略图实现,"['C#读取dwg零件表', 'CAD文件处理', '图像处理']

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今天和大家聊聊MSA中的偏倚。

看来看看偏倚:b0b54d502bea0a45be564c4ffb15eb04.png

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那么Cg,Cgk是啥呢?

Cg 、Cgk是指量具(检具)能力指数,是根据被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件(或生产件)来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受。

 Cg是量检具重复精度能力指数,Cgk是量检具准确精度能力指数,类似于Cp和Cpk的区别。

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如果将cg,cgk与AIAG的偏倚显著性联系起来,其方法是计算cg与cgk的差值,基于公式就可以得到与显著性检验类似的公式,要求差值小于一个常数,该常数与重复测量的次数相关。如上图。

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通过以上偏倚研究和量具能力研究的判定标准,可以看出:

Cg/Cgk指标更注重实用性,它们与被测特性的公差T相关联,也即是在同样的Sg和Bi时,只要被测特性的公差T足够大,该测量系统的量具能力是可以接受的;反之,若被测特性的公差T较小,则该测量系统的量具能力不可接受。反观偏倚研究,根本不理会被测特性的公差要求,只关注真实的偏倚是否显著偏离0,而且该方法的致命弱点在于,若量具的精度越高(也即是显示分辨率的值越小),相应的Sg会越小,那么偏倚的置信区间会越窄,测量系统越难通过偏倚的显著性检验(0值比较不容易被包含在该置信区间中);相反,若量具的精度越低(也即是显示分辨率的值越大),相应的Sg会越大,那么偏倚的置信区间会越宽,测量系统越容易通过偏倚的显著性检验(0值比较容易被包含在该置信区间中)。

因此,Cg, Cgk的做法可以来代替了偏倚显著性检验。

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