《电子元器件的可靠性》——3.6节恒定应力加速寿命试验

本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.6节恒定应力加速寿命试验，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看

3.6　恒定应力加速寿命试验
3.6.1　加速寿命试验的提出
对于可靠性高的电子元器件进行长期寿命试验，无论是从成本还是从时间上来看，都是不合算的，甚至是不可能的。例如，人造地球卫星上所使用的电子元器件，要求失效率小于2.6×10-8/小时，如果要验证它，抽取1000个元件进行试验，若允许5个元件失效，则需试验22年。而对可靠性要求更高的元件，如果要求失效率小于10-10/小时，若按上面的试验方案，则需要进行大约5700年的寿命试验，显然这是不可能的。如果将寿命试验时间缩短为1000小时，则试验元件数将分别增加到1.9×105和5×107个。这样大量的试验，从人力或物力上都是极难实现的，甚至是不可能实现的。因此，提出了加速寿命试验的方法。
加速寿命试验的目的概括起来有以下几个。
1） 可以在较短时间内用较少的元器件估计高度可靠元器件的高可靠性水平，运用外推的方法能快速预测元器件在额定或实际使用条件下的可靠度或失效率；
2） 可以在较短时间内提供试验结果，检验工艺改进效果，或比较不同工艺的好坏，对元器件可靠性设计和可靠性增长的效果进行评价；
3） 在较短时间内暴露元器件的失效类型及形式，以便对失效机理进行研究，找出失效原因，从而可正确地确立失效判据和失效条件，为提高产品可靠性提供依据；
4） 比较可靠性筛选效果，确定最好的筛选方法，以便选择恰当的筛选方法，淘汰早期失效的产品；
5） 测定元器件某些极限的使用条件。
但是，加速寿命试验不能完全代替正常使用条件下的寿命试验，它只是对寿命试验的一种近似估计。这是因为加速寿命试验目前还存在不少困难；其一是对试验方法及测试条件的保证有严格的要求；其二是为了对试验结果做出正确的解释，必须对产品的失效机理有较好的了解；其三是有多次的试验结果需要进行比较和分析。但是，由于加速试验在理论上有一定的根据，而且能在较短的时间内对产品的可靠性做出估计，因此该方法仍被广泛地采用。
要使加速寿命试验方法得到实际应用，必须解决下面两个问题。
1） 必须找到加速前后寿命之间的关系，否则加速试验无意义；
2） 加速必须是真正的加速，也就是只加快失效进程，而不改变失效机理。
产品寿命分布的类型与施加应力的类型有密切关系，同样的产品由于承受不同类型的应力，效应的寿命分布类型也将会不同。同类型的产品，在同样类型的应力条件下，虽然应力水平不同，但在一定的范围内，它不会改变产品寿命的分布类型，而只影响寿命的分布参数。例如，某种型号的电子管，施加电应力时的寿命分布可能符合威布尔分布；如果对电子管施加某种频率的振动试验，其疲劳寿命分布有可能是对数正态分布。对于电子元器件，多数都工作在一定温度和电应力条件下，从失效机理分析也可知，多数元器件的失效是由温度和电应力造成的。因此，着重介绍以温度和电应力为加速应力的寿命试验，并以失效规律符合威布尔的恒定应力加速寿命试验为基础，分析加速寿命试验的理论和方法。
3.6.2　加速寿命试验的理论基础
电子元器件失效的原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理反应有关。器件从出厂经过储存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学、物理变化。在各种外界环境下，器件还会承受各种热、电、机械应力，会使原来的化学、物理反应加速，而其中电应力和温度应力对失效最为敏感。加速应力寿命试验的理论基础就是可靠性物理模型。由于电子元器件存在多种类型，其失效模式也有许多种。但就其本质来讲，或属于化学反应的或电的作用，其失效进程加速可归结于克服势垒的激活能或反应速率等理论来加以描述，因而相应地提出并建立了4个物理模型及关系式。
1.逆幂律模型
逆幂律模型由动力学理论和激活能导出。大量试验证明，不少元器件或绝缘材料的寿命与电压、电流、功率等应力之间符合逆幂律关系，这些应力会促使