使用加速寿命试验来模拟产品在极端压力水平下的性能

本文介绍了如何使用加速寿命试验来模拟产品在极端压力下的性能,特别是在电子设备的晶体管漏电研究中。通过Minitab进行数据分析,工程师能够在不同温度条件下估计设备的失效时间,从而在设计和制造阶段优化产品的可靠性。案例展示了在55°C和85°C下,设备的预期故障时间,揭示了加速试验在快速获取寿命数据方面的价值。
摘要由CSDN通过智能技术生成

在这一步骤中,要获取或构建多个组件或子系统,同时组装原型。大多数“传统”的试验和分析都是在这一阶段进行的,包括对从供应商那里获得的组件和子系统进行连续取样,用于 Minitab 中的加速寿命试验和寿命数据回归。

当进入制造阶段时,可靠性设计工作应主要集中在减少或消除制造过程中可能出现的问题。制造会在以下任何方面引入变化:材料、过程、制造场所、操作人员和污染。考虑到这些额外的变量,应该重新评估产品的可靠性。为了提高稳健性,可能需要对设计进行修改。

成功实施这一步骤的关键检查点包括:

(1)根据经验设计 (DOE) 技术确定的、以结构化方式计划和运行的实验,验证(或确认)要求是否得到满足

(2)增进对产品和过程的了解

(3)了解通过分析实验运行结果确定的关键使用、设计和环境参数的影响(和相互作用)

(4)识别缺陷(不足)和需要改进设计的领域

(5)对半工业化生产线的产品进行可靠性试验

让我们看一个例子,我们使用加速寿命试验来模拟产品在极端压力水平下的性能,并将结果推断到正常使用条件。

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