MCU的ADC采样精度可以通过以下几种方法提高:
增加采样率:增加采样率可以减小采样误差,但会增加系统的计算复杂度和存储要求。
使用更高分辨率的ADC:ADC的分辨率越高,采样精度就越高。
控制ADC的输入偏移:控制ADC的输入偏移可以减少偏移对采样精度的影响。
使用多通道采样:通过使用多通道采样,可以将采样误差分散到多个通道,从而减小对采样精度的影响。
增加样本数:增加样本数可以减小采样误差,但会增加存储和计算的复杂度。
需要注意的是,有时候多种方法的效果会相互影响,因此需要根据具体情况选择合适的方法。