stm32 adc 测量偏差的简单解决方案 hal库

最近用stm32 去检测电压发现会偏差70mv左右，而且上下波动20mv左右
于是找到了一些解决方法

1.最重要的一步
在初始化adc之后，进行校准

 MX_ADC1_Init();
 HAL_Delay(200);
 HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);

关于延时本人经测试，并没有太大差别，但又帖子说明，可以减小误差，自行测试。

2.延长采样时间
（1）在配置中修改

（2）在代码中修改
找到下面代码中simplingtime,右键查找ADC_SAMPLETIME_71CYCLES_5的定义，选择你所需要的周期

//void MX_ADC1_Init(void)
//{
 //  ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};

    /** Common config
    */
  //  hadc1.Instance = ADC1;
  //  hadc1.Init.ScanConvMode = ADC_SCAN_DISABLE;
  //  hadc1.Init.ContinuousConvMode = DISABLE;
  //  hadc1.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
  //  hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
  //  hadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
  //  hadc1.Init.NbrOfConversion = 1;
  //  if (HAL_ADC_Init(&hadc1) != HAL_OK)
  //  {
 //       Error_Handler();
    }
    /** Configure Regular Channel
    */
  //  sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_0;
  //  sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
    sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_71CYCLES_5;
  //  if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  //  {
  //      Error_Handler();
 //   }

//}

计算公式：
采样时间=（12.5+采样周期）/时钟频率

3.进行软件滤波
这里采样最简单的方法
因为我测得数据中发现是围绕着目标值上下波动，且周期性出现尖峰，
直接采样多次测量，取平均值得方法。

 for(i=0; i<max; i++ )
        {   HAL_ADC_Start(&hadc1);
            while(HAL_OK==HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,10))
            {
                HAL_ADC_Stop(&hadc1);
                sum+=HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
            }
        }

        adc_Value=sum/max;
        sum=0;
        adc_Value=adc_Value*3300/4096;//采集到的out电压  mv

10种软件滤波得方法

4.其他原因导致的测量偏差
最主要的就是没有共地，或者多地。
测试中，实用的stm32f103rc8t6最小系统板，因为采样了usb转ttl模块供电，同时使用了，usb线，接在排插上供电，多地，导致测量数据大幅偏差。