本发明涉及一种消除荧光瑞利散射方法,特别是一种三维荧光中瑞利散射扣除方法。
背景技术:
三维荧光光谱作为指纹图谱和定性定量方法,近年来得到了广泛应用。为了改善谱图质量和更准确定性定量,需要消除掉谱图中夹杂的瑞利散射信号。常用的方法包括:空白扣除法、Delaunay三角形内插值法、置零法和缺损数据重构法(MDR)等。其主要思路有两条,一是如空白扣除法的,从含有瑞利和荧光的混合数据中,消除瑞利数据,保留荧光数据,但是3D荧光测量时较长,采用空白法将使得时间增加一倍,如果只保留一次空白数据,下次再用,又无法保证重复性;二是将瑞利和荧光重叠区域清除后直接作为结果,或者用周围数据拟合出被清除的区域,因而,这种思路在荧光信息较丰富的区域,存在信息量损失较大的风险。
技术实现要素:
本发明要解决的技术问题是:提供一种三维荧光中瑞利散射扣除方法,以解决现有技术存在的上述测量时间长、存在信息量损失较大风险的不足之处。
本发明的技术方案是:一种三维荧光中瑞利散射扣除方法,该方法是先找出与荧光不重叠的瑞利峰,获取瑞利峰数据R,将瑞利峰数据R消除随机误差和噪声后作为单位瑞利峰RD;从瑞利峰与荧光出现交叠的发射光谱开始,逐步消除瑞利峰,直至所有交叠的瑞利散射被消除。
本发明的进一步技术方案是:该方法包括以下步骤:
S1.测量样本的三维荧光光谱;
S2.找出与荧光不重叠的瑞利峰,将含完整的瑞利峰型数据另外存储为R;
S3.取瑞利峰数据R,以中心波长对齐,按峰高归一化后平均