机电系统计算机控制技术a2卷,机电系统计算机控制技术实验指导书.doc

机电系统计算机控制技术实验指导书.doc

机电系统计算机控制

课程实验指导书

电子科技大学机械电子工程学院

目录

实验一、采样控制实验3

实验二 二阶PID控制6

实验三 消除振铃大林算法控制12

实验四 最少拍控制系统19

实验一、采样控制实验

一．实验目的

1. 了解判断采样控制系统稳定性的充要条件，及采样周期T对系统的稳定性的影响。

2．掌握控制系统处于临界稳定状态时的采样周期T的计算。

3．观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。

二．实验原理及装置

1． 判断采样控制系统稳定性的充要条件

线性连续系统的稳定性的分析是根据闭环系统特征方程的根在S平面上的位置来进行的。如果特征方程的根都在左半S平面，即特征根都具有负实部，则系统稳定。

采样/保持控制系统的稳定性分析是建立在Z变换的基础之上，因此必须在Z平面上分析。S平面和Z平面之间的关系是：S平面左半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆内，S平面的右半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆外。

所以采样控制系统稳定的充要条件是：系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内。只要其中有一个特征根在单位圆外，系统就不稳定；当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时，系统就处于临界稳定。也就是说，只要特征根的模均小于1，则系统稳定；若有一个特征根的模大于1，则系统不稳定。当采样周期设定为临界值时出现等幅振荡。

2． 采样周期T对系统的稳定性的影响

闭环采样控制系统原理方块图如图4-3-3所示：

图1-1 闭环采样控制系统原理方块图

从采样实验中知道采样输出仅在采样点上有值，而在采样点之间无值。如其输出以前一时刻的采样值为参考基值进行外推，即可使两个采样点之间为连续信号过度。可以完成上述功能的装置或者器件就称为保持器。因为数/模转换器(D/A)具有两极输出锁存能力，所以具有零阶保持器的作用。

使用了采样保持器后，采样点间的信号是外推而得的，实际上已含有失真的成份，因此，采样周期信号频率过低将会影响系统的稳定性。采样周期T可由用户在界面上直接修改，在不同采样周期下，观察、比较输出的波形。

三. 实验器材

序号名 称型号与规格数量备注1LabACTn自控/计控实验机1四．实验内容及步骤

闭环采样控制系统实验构成电路如图1-2所示。

图2-1 闭环采样控制系统实验构成电路

其中被控对象的各环节参数及系统的传递函数：

积分环节(A1单元)的积分时间常数Ti=R1*C1=0.2S，

惯性环节(A2单元)的惯性时间常数 T=R2*C=0.5S，增益K=R2/R3=5。

被控对象的开环传递函数： (1-1)

零阶保持器的传递函数： (1-2)

G(z)为包括零阶保持器在内的广义对象的脉冲传递函数：

(1-3)

将式(1-3)Z变换后，得闭环采样系统的特征方程：

(1-4)

1．临界稳定状态时的采样周期T的计算

采样控制系统稳定的充要条件是：系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内，只要其中有一个特征根在单位圆外，系统就不稳定；当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时，系统就处于临界稳定。根据式(1-4)可知，特征方程式的根与采样周期T有关，只要特征根的模均小于1，则系统稳定。若要求特征根的模小于1，须：

(1-5)

可得：采样周期T<0.0823秒。

2．实验内容及步骤

闭环采样/保持控制系统实验构成电路如图1-1所示，了解采样周期T对控制系统的稳定性的影响及临界稳定状态时的采样周期T的计算。观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。本实验将函数发生器(B4)单元作为信号发生器， OUT输出施加于被测系统的输入端Ui，观察OUT从0V阶跃+2.5V时，被测系统的在不同的采样周期T时对系统的稳定性的影响。

(1)构造模拟电路：按图1-1安置短路套极插孔连线，表如下。

(2)构造模拟电路：按图4-3-4安置短路套及测孔联线，表如下。

(a)安置短路套 (b)插孔联线

1控制器输出B4(AOUT1)→A1(H1)2运放级联A1(OUT)→ A2(H1)3数据采集A2(OUT)→ B2(CH2)4控制输出显示B4(AOUT1)→ B2(CH1)

模块号跨接座号1A1S3，S11，S122A2S3，S10，S11(3)运行、观察、记录：

① 运行LABACT程序，选择计算机控制技术实验菜单下的采样与保持/采样控制，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始运行实验程序。

②该实