微波暗室设计

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微波暗室设计方案

微波暗室的设计主要涉及到暗室的尺寸、房间的结构、吸波材料的选取、静区的大小、电磁屏蔽等方面的关键技术。

反射率电平反映的是微波暗室的测量精度，同时它也表征着天线方向图的测量电平误差。对于反射率电平的评估方法，目前公认的最常用的有两种：天线方向图比较法(Antenna Pattern Comparison，APC)和自由空间电压驻波比法(Voltage Standing Wave Ratio．VSWR)

对微波暗室天线近场测量系统的研究，最大的难点在于如何降低波导探头处的反射波对测量产生的干扰，为此提出了多种抑制测量干扰的方法，并对近场——远场转换这个过程给出了很多改进的方案，使得近场测量结果更加精确。

微波暗室的测量分为近场测量和远场测量两种。二者的区别在于源天线和被测天线的距离不同，被测天线所处场区不同。在紧邻天线辐射的空间里，存在三种不同类型的场区。根据特性的不同可划分为感应近场区、辐射近场区和辐射远场区。感应近场区是在紧邻天线的空间中，以场源为中心，三个波长范围内的区域。感应近场区是非辐射场，此区域的电磁场没有做功，接收天线在此区域会产生电容、电感耦合，因此不能用于天线的测量。感应近场区向外是辐射场区，其中距离场源3～10个波长的区域为辐射近场区，10个波长以上的区域为辐射远场区。天线的近场测量和远场测量就是分别在辐射近场区和辐射远场区进行的。

微波暗室设计的过程中，暗室的大小应满足被测天线处在源天线远场辐射区内，才能满足远场测量的条件。同时，摆放被测天线的位置需要架设一个能转动被测天线方向角和俯仰角的转台，用于远场测量。

微波暗室在设计过程中要搭建远场和近场两种测量系统，远场测量系统需要架设转台，近场测量系统需要架设扫描架。

传输频段不仅影响暗室的结构大小，在暗室铺设吸波材料的选取上，也要考虑被测设备的工作频段。吸波材料是指能吸收投射到它表面的电磁波能量，并通
过材料的介质损耗使电磁波能量转化为热能或其他形式的能量。材料吸收电磁波的基本条件是：电磁波入射到材料上时，能尽可能不反射而最大限度的进入材料内部；进入材料内的电磁波能迅速的尽可能衰减掉。

吸波材料作为微波暗室的重要组成部分，主要用来减少甚至消除源天线发射的电磁信号发射到墙壁和障碍物时产生的反射和散射。吸波材料的吸波性能、形状、厚度、材质等对微波暗室的性能好坏有很大影响。吸波材料的吸收率越高ÿ