一、介绍
synopsys ic compiler (v2005.linux)
是基于
Galaxy
设计平台开发的产品。主要的工具有:
LEDA
LEDA
是可编程的语法和设计规范检查工具,
它能够对全芯片的
VHDL
和
Verilog
描述、
或者两者混合描述进
行检查,加速
SoC
的设计流程。
LEDA
预先将
IEEE
可综合规范、可仿真规范、可测性规范和设计服用规范集成,
提高设计者分析代码的能力
VCS
VCS
是编译型
Verilog
模拟器,它完全支持
OVI
标准的
Verilog HDL
语言、
PLI
和
SDF
。
VCS
具有目前行业中
最高的模拟性能,其出色的内存管理能力足以支持千万门级的
ASIC
设计,而其模拟精度也完全满足深亚微米
ASIC Sign-Off
的要求。
VCS
结合了节拍式算法和事件驱动算法,具有高性能、大规模和高精度的特点,适用
于从行为级、
RTL
到
Sign-Off
等各个阶段。
VCS
已经将
CoverMeter
中所有的覆盖率测试功能集成,并提供
VeraLite
、
CycleC
等智能验证方法。
VCS
和
Scirocco
也支持混合语言仿真。
VCS
和
Scirocco
都集成了
Virsim
图
形用户界面,它提供了对模拟结果的交互和后处理分析。
Scirocco
Scirocco
是迄今为止性能最好的
VHDL
模拟器,
并且是市场上唯一为
SoC
验证度身定制的模拟工具。
它与
VCS
一样采用了革命性的模拟技术,即在同一个模拟器中把节拍式模拟技术与事件驱动的模拟技术结合起来。
Scirocco
的高度优化的
VHDL
编译器能产生有效减少所需内存,大大加快了验证的速度,并能够在一台工作站
上模拟千万门级电路。这一性能对要进行整个系统验证的设计者来说非常重要。
Vera
Vera
验证系统满足了验证的需要,允许高效、智能、高层次的功能验证。
Vera
验证系统已被
Sun
、
NEC
、
Cisco
等公司广泛使用以验证其实际的产品,从单片
ASIC
到多片
ASIC
组成的计算机和网络系统,从定制、半定
制电路到高复杂度的微处理器。
Vera
验证系统的基本思想是产生灵活的并能自我检查的测试向量,然后将其
结合到
test-bench
中以尽可能充分测试所设计的电路。
Vera
验证系统适用于功能验证的各个层次,它具有以
下特点:与设计环境的紧密集成、启发式及全随机测试、数据及协议建模、功能代码覆盖率分析。
Physical Compiler
Physical Compiler
解决
0.18
微米以下工艺技术的
IC
设计环境,是
Synopsys
物理综合流程的最基本的模
块,它将综合、布局、布线集成于一体,让
RTL
设计者可以在最短的时间内得到性能最高的电路。
通过集成
综合算法、布局算法和布线算法。在
RTL
到
GDS II
的设计流程中,
Physical Compiler
向设计者提供了可以确
保即使是最复杂的
IC
设计的性能预估性和时序收敛性。
Clocktree Compiler
ClockTree Compiler
是嵌入于
Physical Compiler
的工具,它帮助设计者解决深亚微米
IC
设计中时钟树的
时序问题。它不仅能够简化设计流程,而且可以极大的提高时钟树的质量:对于插入延时有
5
%-
20
%的改
进,对时钟偏移有
5
%-
10
%的改进。
DC-Expert
DC
得到全球
60
多个半导体厂商、
380
多个工艺库的支持。据最新
Dataquest
的统计,
Synopsys
的逻辑综
合工具占据
91%
的市场份额。
DC
是十二年来工业界标准的逻辑综合工具,也是
Synopsys
最核心的产品。它使
IC
设计者在最短的时间内最佳的利用硅片完成设计。它根据设计描述和约束条件并针对特定的工艺库自动综
合出一个优化的门级电路。它可以接受多种输入格式,如硬件描述语言、原理图和网表等,并产生多种性能
报告,在缩短设计时间的同时提高设计性能。
DC Ultra
对于当今所有的
IC
设计,
DC Ultra
是可以利用的最好的综合平台。它扩展了
DC Expert
的功能,包括许
多高级的综合优化算法,让关键路径的分析和优化在最短的时间内完成。在其中集成的
Module Compiler
数据
通路综合技术,
DC Ultra
利用同样的
VHDL/Verilog
流程,能够创造处又快又小的电路。
DFT Compiler
DFT Compiler
提供独创的
“
一遍测试综合
”
技术和方案。它和
Design Compiler
、
Physical Compiler
系列产
品集成在一起的,包含功能强大的扫描式可测性设计分析、综合和验证技术。
DFT Compiler
可以使设计者在
设计流程的前期,很快而且方便的实现高质量的测试分析,确保时序要求和测试覆盖率要求同时得到满足。
DFT Compiler
同时支持
RTL
级、门级的扫描测试设计规则的检查,以及给予约束的扫描链插入和优化,同时进
行失效覆盖的分析。
Power Compiler
Power Compiler?
提供简便的功耗优化能力,
能够自动将设计的功耗最小化,
提供综合前的功耗预估能力,