xrd精修教程_XRD精修干货和三元材料的XRD精修实例

本文详细介绍了XRD精修的过程,包括内标物质Si的作用、晶胞参数精修、全局参数和相参数的调整。通过实例展示了如何使用Rietveld方法对三元材料进行精修,强调了关注R值变化的重要性,并提供了精修结果的输出方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

操作界面

操作步骤示例

例:对有一个Mn-O样品,进行Rietveld精修

样品中加入30%内标物质Si。

Si在这里有两个作用:

作为晶胞参数精修的标样,校正仪器的测量误差。

作为多相定量的内标,计算各个相的含量。

具体步骤如下:

1 物相检索,确定晶体结构模型

模型选择为PDF卡片,称为“非结构相”,模型选择为晶体结构(Cif文件),称为“结构相”。Jade通过选择“计算卡片”来读入“结构相”模型。

2 进入精修窗口

选择“Options | WPF Refine”命令,进入全谱拟合窗口。图中显示4个物相被引入。

3固定内标参数,输出参数初始值

Si作为内标物质,首先就要固定住它的晶胞参数LC不被改变,同时设置作为定量分析的内标,输入其掺入量为30%。

4计算理论谱,建立初始模型

根据引入的晶体结构计算出一个“计算谱”,同时显示计算谱和实测谱之间的差异(方差)

图中白色的谱图为实测谱,红色的谱图为计算谱,在窗口的上端显示两者的差异R。

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