光纤传感器实验模块_实验五 光纤传感器位移测量

式中，

n

为光纤所在环境的折射率(若为空气，则

n

=1

)，

n

sin



定义为数值孔径，记作

NA

，

它是衡量光纤集光性能的主要参数。它表示，无论光源发射功率多大，只有

2

θ

张角内的光

才能被光纤接收、传播(全反射)，

NA

愈大，光纤的集光能力愈强。

2

．光纤中光波的调制和相关的反射机制。

通过光纤传感器的敏感头(或传感臂)与外界待测对象相互作用，将待测量的信号传递到光纤内的导光波中，或信息加载于光波之上，这

个过程称为光纤中光波的调制，简称光调制。外界待测量可能引起光的强度、波长(颜色)、频率、相位和偏振态等性质发生变化，从而

构成强度、波长、频率、相位和偏振态调制原理。

利用外界因素改变光纤中光的强度，

通过测量光强的变化来测量外界物理量的原理称为光强度调制。

(光电探测器只能探测光的强度。

)

光强度调制分为外调制和内调制两种形式。外调制的调制过程发生在光纤以外的环节，

光纤本身特性不变，

光纤只起传光作用，属于传光

型；内调制过程发生在光纤内部，是通过光纤本身特性的改变来实现光强度的调制，属于功能型。

实现光强度调制的反射机制：两根光纤并排放置，一根是发送光纤，一根是接收光纤，在光纤端而前放置反射体，当反射体距光纤端

面距离发生变化时，接收光纤收到的光功率发生变化，构成了反射型光强调制装置。

由此可探测反射体的位移变化，

从而检测出引起反射

体位置变化的因素量。

3

．反射式强度外调制光纤传感器位移测量原理。

反射式光纤位移传感器如图

5-2

所示。光纤采用

Y

型结构，两束光纤一端合并成光纤束探头(半圆型、同心圆型或随机分布型)；另

一端分为两束，

分别作为光源光纤和接收光纤，

只起传输信号的作用。

当光发射器发生的红外光

(为非相干光)

经光源光纤照射至反射体，

被反射的一部分光经接收光纤入射光探测元件进行光电转换，

然后经光电变换电路输出稳定的电信号。

接收光纤接收的光强主要决定于反

射体距探头的距离，通过对光强的检测而得到位移量。分析如下：

见图

5-3

所示，设光纤的折射率剖面为阶跃型，

光纤数值孔径

光线探头中的输入光纤(光源光纤)与输出光纤(接收光纤)间距为

d

(



微米

数量级)光纤直径为

2

r

，探头端面与反射体之