原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)
是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。由于
AFM
独特的成像方式,使得它在科学研究工作中,如金属、半导体材料、微电子、物理、化学、生物、纳米材料、生命科学等众多科学领域中得到迅速的发展和应用。
自石墨烯的出现,二维材料体系研究因其独特的物理特性受到极大的关注。尤其近两年“魔角”石墨烯的超导能力,开辟了凝聚态物理的新领域,因此二维材料的电学性质表征显得尤为重要。在本次讲座中主要涉及到高分辨导电原子力、环境可控表面电势以及基于微波技术的最近扫描电容显微镜在二维材料等领域的一些电学性质新进展。欢迎您报名参加!
日期:2020年12月8日9:30-10:00
报名方式:点击文末阅读原文报名,席位有限先到先得
注意事项:
听课链接将在会议开始前通过电话、短信和邮箱通知,请在报名时填写正确的信息。
刘志文 博士
牛津仪器应用工程师
2006年博士毕业于大连理工大学三束国家重点实验室,利用AFM, TEM, XRD等技术手段研究PVD制备的氧化物薄膜的生长机制。曾任安捷伦科技纳米测量部应用科学家,主要从事AFM的应用工作。现为牛津仪器的资深应用科学家,从事原子力显微镜的应用推广、测试方法的研究以及AFM相关的多系统耦合。
欢迎关注牛津仪器
The Business of Science
400 678 0609 | www.oxinst.cn