FPGA控制AD7606进行数据采集

目录

一、AD7606数据手册

     1.ADC采样原理

     2.AD7606使用手册

二、实例

     1.状态转移图

     2.Verilog代码

     3.仿真结果

总结

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一、AD7606数据手册

     1.ADC采样原理

        在实际的工程中，经前端传感器出来的信号基本都是模拟信号，而后端mcu主控芯片是基于数字信号进行处理的，因此需要用到ADC进行模数转换。ADC包括三个基本功能：抽样、量化和编码。抽样过程是将模拟信号在时间上离散化，使之成为抽样信号；量化是将抽样信号的幅度离散化使之成为数字信号；而编码则是将数字信号转换成数字系统所能接受的形式。如何实现这三个功能就决定了ADC的形式和性能。同时，ADC的分辨率（即采样精度）越高，需要的转换时间就越长，转换速度就越低，故ADC的分辨率和转换速率两者总是相互制约的。

       对于一个16位的ADC来说，如果输入的模拟信号幅值在0到3.3V，那么采样后输出的数字信号对应的应该在0到65535，采样精度是1/65536。因此，我们发现，采样位数越高的AD，其采样精度越高，信噪比越大，其越接近原始信号。

      采样率即是两个采样点之间的间隔时间，两个采样点之间的间隔时间越短，其采样率越高。根据奈奎斯特采样定律，信号的采样率应该大于其最大频率的2倍。而实际应用中，通常选择信号最大频率的几十倍的采样率，为了更加准确有效的恢复出原始信号。