逐次比较型SAR ADC工作原理

逐次比较型ADC工作原理

1. 转换方式

​ 直接转换ADC

2. 电路结构

​ 逐次逼近ADC包括n位逐次比较型A/D转换器如图1所示。它由控制逻辑电路、时序产生器、移位寄存器、D/A转换器及电压比较器组成。

图1 逐次比较型AD转换器框图

图1 逐次比较型AD转换器框图

3. 工作原理

​ 逐次逼近转换过程和用天平称物重非常相似。天平称重物过程是,从最重的砝码开始试放,与被称物体进行比较,若物体重于砝码,则该砝码保留,否则移去。再加上第二个次重砝码,由物体的重量是否大于砝码的重量决定第二个砝码是留下还是移去。照此一直加到最小一个砝码为止。将所有留下的砝码重量相加,就得此物体的重量。仿照这一思路,逐次比较型A/D转换器,就是将输入模拟信号与不同的参考电压作多次比较,使转换所得的数字量在数值上逐次逼近输入模拟量对应值。

对图1的电路,它由启动脉冲启动后,在第一个时钟脉冲作用下,控制电路使时序产生器的最高位置1,其他位置0,其输出经数据寄存器将1000……0,送入D/A转换器。输入电压首先与D/A转换器输出电压(VREF/2)相比较,如输入电压VI≥VREF/2,比较器输出为1,若输入电压VI< VREF/2,则为0。比较结果存于数据寄存器的Dn-1位。然后在CP的第二个时钟脉冲作用下,移位寄存器的次高位置1,其他低位置0。如最高位已存1,则此时 VO’=(3/4)VREF。于是VI再与(3/4)VREF相比较,如VI≥(3/4)VREF,则次高位Dn-2=1,否则Dn-2=0;如最高位为0,则VO’=VREF/4,输入电压VI与VO’比较,如输入电压VI≥VREF/4,则 Dn-2位存1,否则存0……。以此类推,逐次比较得到输出数字量。

​ 为了进一步理解逐次比较A/D转换器的工作原理及转换过程。下面用实例加以说明。
​ 设图1电路为8位A/D转换器,输入模拟量VA=6.84 V,D/A转换器基准电压VREF=10 V。 根据逐次比较D/A转换器的工作原理,可画出在转换过程中时钟CP、启动脉冲、D7~D0及D/A转换器输出电压VO’的波形,如图2所示。

​ 由图2可见,当启动脉冲低电平到来后转换开始,在第一个时钟脉冲CP作用下,数据寄存器将D7~D0=10000000送入D/A转换器,其输出电压 VO’= 5 V,VA与VO’比较,VA>VO’存1;第二个CP到来时,寄存器输出D7~D0=11000000,VO’为7.5 V,VA再与7.5 V比较,因VA<7.5 V,所以D6存0;输入第三个CP时,D7~D0=10100000,VO’= 6.25 V;VA再与VO’比较,……如此重复比较下去,经8个时钟周期,转换结束。由图中VO’的波形可见,在逐次比较过程中,与输出数字量对应的模拟电压VO’逐渐逼近VA值,最后得到A/D转换器转换结果D7~D0为10101111。该数字量所对应的模拟电压为 6.8359375 V,与实际输入的模拟电压 6.84 V的相对误差仅为0.06%。

图2 8位逐次比较型AD转换器波形图

图2 8位逐次比较型AD转换器波形图

4. 特点

​ (1)转换速度:(n+1)Tcp . 速度快。
​ (2)调整VREF,可改变其动态范围。

5. 转换器电路举例

​ 常用的集成逐次比较型A/D转换器有 ADC0808/0809系列(8位)、AD575(10位)、AD574A(12位)等。

例1 4位逐次比较型A/D转换器的逻辑电路如图3所示。图中5个移位寄存器可进行并入/并出或串入/串出操作,其F为并行置数端,高电平有效,S为高位串行输入。数据寄存器由D边沿触发器组成,数字量从Q4~Q1输出,试分析电路的工作原理。

图3 4位逐次比较型AD转换器的逻辑电路

图3 4位逐次比较型AD转换器的逻辑电路

解:

电路工作过程如下:
当启动脉冲上升沿到来后,FF0~FF4被清零,Q5置1,Q5的高电平开启G2门,时钟CP脉冲进入移位寄存器。在第一个CP脉冲作用下,由于移位寄存器的置数使能端F已有0变为1,并行输入数据 ABCDE=01111置入,QAQBQCQDQE=01111。QA的低电平使数据寄存器的最高位置1,即Q4Q3Q2Q1=1000。D/A转换将数字量1000转换为模拟电压VO’,送入比较器C与输入模拟电压VI比较,若输入电压VI> VO’,则比较器C输出VC为1,否则为0。比较结果送D4~D1
第二个CP脉冲到来后,移位寄存器的串行输入端S为高电平,QA由0变1,同是最高位QA的0移至次高位QB。于是数据寄存器的Q3由0变1,这个正跳变作为有效触发信号加到FF4的CP端使VC的电平得以在Q4保存下来。此时,由于其他触发器无正跳变脉冲,VC的信号对它们不起作用。Q3变为1后建立了新的D/A转换器的数据,输入电压在与其输出电压VO’相比较,比较结果在第三个时钟脉冲作用下存于Q3……。如此进行,直到QE由1变0,使Q5由1变0后将G2封锁,转换完毕。于是电路的输出端D3D2D1D0得到与输入电压VI成正比的数字量。

下表为移位寄存器的状态转换表

移位寄存器状态QEQDQCQBQA
将输入数据ABCDE=01111置入11110
第一次移位11101
第二次移位11011
第三次移位10111
第四次移位01111

​ 由以上分析可见,逐次比较型A/D转换器完成一次转换所需的时间与其位数和时钟脉冲频率有关,位数愈少,时钟频率愈高,转换所需时间越短。这种A/D转换器具有转换速度较快,精度高的特点。

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从 “21ic.com中国电子网” 转载文章《什么是逐次比较型ADC》,作者:chenrj

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SAR ADC全称为逐次逼近寄存器模数转换器(Successive Approximation Register Analog-to-Digital Converter),是一种常用于将模拟信号转换为二进制数字信号的电子设备。其校准原理是通过比较输入信号与DAC(数模转换器)输出信号之间的偏差,采取逐次逼近的方法不断调整DAC输出值,直到达到预定的精度要求。 SAR ADC的校准过程一般包括以下几个步骤: 1. 设置参考电压:首先,需要设置一个已知的参考电压,用于与输入的模拟信号进行比较和校准。这个参考电压一般是通过外部电压源或内部参考电压源提供的。 2. 初始化:将校准寄存器和逼近寄存器初始化为初始值,使得DAC输出值开始为预定的中间值。 3. 校准过程:将待转换的模拟信号输入到SAR ADCADC开始将DAC输出信号与输入信号进行比较。如果DAC输出信号大于输入信号,则逼近寄存器的相应位被清零;如果DAC输出信号小于输入信号,则逼近寄存器的相应位被置为1。这样,经过多轮的逼近比较和调整,DAC输出的数字信号逐渐逼近输入信号的真实值。 4. 输出数字结果:当校准过程达到预定精度要求时,SAR ADC输出对应的二进制数字结果,并将其存入输出寄存器中。 需要注意的是,为了提高SAR ADC的校准精度和性能,还可以采取一些校准技术,例如引入校准电容和电流来减小误差、使用自校准电路来实现自动校准等。这些技术的目的都是为了减小SAR ADC的非线性误差、增加分辨力和减少噪声。 总之,SAR ADC的校准原理是通过逼近方法,不断调整DAC输出值,使得其与输入模拟信号的偏差逐渐减小,最终达到精确的模拟信号转换为数字信号的目的。

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