伏安特性曲线实验报告_17系资源|工程光学(下)实验报告

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前言：本报告为工程光学下配套实验的实验报告，本报告可能有错误，不要过度相信，只是给大家提供批判参考以及学习交流。转载需注明出处。

实验一  组合干涉仪及光纤陀螺演示实验

一、实验目的

通过本实验，观察干涉现象，了解干涉原理，了解三种干涉仪的结构和特点，学会干涉光路的搭构与调整，掌握通过光干涉进行测量的方法。了解光纤干涉系统以及光纤陀螺基本结构和原理。

二、实验原理

      本部分实验均基于光的干涉理论，对应《工程光学》第十二章内容。干涉测量技术是一种利用光的干涉现象来测量某些物理量的微小变化的技术,一般情况下,它是将一束光通过光学元件分为两束,一束作为参考光,另一束作为测量光,测量光落在被测物体上或通过被测样品,然后再将这两束光重新拟合,利用干涉图形的变化,检查出目标某个物理量的微小变化.

这种测量方法由于大多采用高稳定度的、长相干的激光作为光源，因此一般都具有大量程、高分辨率、高精度、对目标影响小的特点，被广泛应用在国民经济的各个领域。

      该技术在实际应用中，根据使用环境和要求的不同，往往采用不同的光路结构。本实验主要搭构三种较为常见的光路结构，组成1)迈克尔逊干涉仪，2)马赫-曾德尔干涉仪，3)萨格奈克干涉仪，以熟悉它们的结构和特点。

1.迈克尔逊干涉仪

   迈克尔逊干涉仪作为一种十分古老的干涉仪，于1880年由迈克尔逊发明，并主要由此于1907年获得诺贝尔奖金。它的基本光路结构如图1。它常被用来测量物体的微小位移变化：从光源发出的一束相干光经分束镜G一分为二，分为两束。一束透射光落在反射镜M1上，另一束反射光落在发射镜M2上，M1、M2分别将这两束光沿原路反射回来，在分束镜G上重合后射入扩束镜，投影在白屏上，如果我们对光路调整的合适，将在白屏上看到一系列的明暗相间的干涉条纹，这些干涉条纹会随着M1或M2的移动而移动，且非常敏感，只要反射镜移动半个波长，干涉条纹就移动一个周期，而光波长一般都在微米量级，因此它具有很高的灵敏度和分辨率。

图2 萨格奈克干涉仪原理图

萨格奈克效应是法国科学家G.Sagnac于1913年首先提出的，它构成了现代光学陀螺—激光陀螺和光纤陀螺的理论基础。在一个闭合的光学环路中，从任意一点出发的沿相反方向传播的两束光波，绕行一周后回到初始传播点，若闭合光路相对于惯性空间发生转动，则两束光波的相位将发生变化，这称为萨格奈克效应。

图3 光纤陀螺原理图

通常采用环形干涉仪来测量萨格奈克效应，图3为世界上第一个环形干涉仪结构，它被认为是最早的光纤陀螺样机。从激光器发出的平行光，通过分束器分成两束，经透镜聚焦在光纤环的两个入射端面上，在光纤环中分别沿顺时针和逆时针方向传播一周，再次经过透镜和分束器投向屏幕，可以在屏幕上观察到一个干涉图样。当整个系统在光纤环的轴向有旋转时，由于萨格奈克效应，屏幕上的干涉光强发生了变化，可以表示为：

式中：I_D是入射光的光强;ϕ_S是旋转引起的相位变化，也称为萨格奈克相移，它与旋转角速度Ω的关系为：

式中：L为光纤长度；R为光纤环的半径；λ0为光波长；c为真空中的光速。光纤环形干涉仪的优势是可以采用多匝光路来增强萨格奈克相移，此时公式(2)中的光纤长度L=2πRN，N是光线线圈的匝数。这种基于光纤环形干涉仪测量旋转角速度的装置称为干涉式光纤陀螺，本实验中所提到的光纤陀螺，均指这种干涉型光纤陀螺。

三、实验设备

  实验平台(400mm×600mm)                   1个

  二维可调半导体激光器(650nm，4mW)          1套

  二维可调分束镜                              1套

二维可调反射镜                               3套

二维可调扩束镜                               1套

白屏                                         1个

气室＋压强计                                 1套

光纤传感实验系统(光纤陀螺教学实验仪)     1套

图5为组合干涉仪搭建装置照片。图6为光纤传感实验系统光纤陀螺结构示意图。

图5 干涉仪搭建装置

四、实验步骤及实验结果

1.迈克尔逊干涉仪搭建及测量实验

       在光学实验平台上，按图示1所示光路搭建出迈克尔逊干涉仪，并调整出粗细适当的干涉条纹。然后在光路中加入气室，对气室加压，改变气室中的空气压强，由于气体的折射率依赖于气体的压强，当这种变化只作用在某一路光束时，必将引起两束光之间的光程差的改变，从而引起干涉条纹的变化。通过压强计读出空气压强同干涉条纹变化的关系，可绘制出空气压强与干涉条纹变化的关系曲线和空气折射率与压强的关系曲线(气室长度100mm)。具体步骤为：

       (1)将半导体激光器、分束镜、反射镜和扩束镜按照图1位置摆放。摆放结果如图7所示。

图7 实验中加入气室的迈克尔逊干涉仪

       (2)通过白屏调整光束的位置，使所有光束在同一水平高度，保证干涉的实现。

       (3)调整分束镜和反射镜的位置，得到干涉条纹，并调出粗细适当的条纹。

       (4)调整阀门改变气室的压强，观察条纹的变化。气室压强表如图8所示，在实验过程中需要注意单位。

       (5)在白屏上固定一个点，计条纹移动的数目。白屏上得到的迈克尔逊干涉仪的干涉图样如图9所示。

       (6)记录条纹移动的数目与气室压强的变化，画出关系曲线。条纹移动数目与气室压强变化关系如表1所示。

图8 气室压强表表盘

图9 迈克尔逊干涉仪白屏上的干涉图样

表1 条纹移动数目与气室压强关系

气室压强(KPa)	272	255	234	217	198
条纹移动数目	0	2	4	6	8
气室压强(Kpa)	181	165	142	119	100
条纹移动数目	10	12	14	16	18

图10 条纹移动数目与气室压强变化关系曲线

       运用MATLAB对数据进行线性拟合，得到线性相关系数为0.9981，说明实验较为成功，线性相关性良好。拟合结果如图11所示。

2.  萨格奈克干涉仪搭建实验

在光学实验平台上，按图示2所示光路搭建出萨格奈克干涉仪。分析在光路中加入气室能否实现测量效果。

图12 实验室中搭建的萨格奈克干涉光路

如果在光路中加入气室，也能够实现同样的测量效果。因为两个光路的传播途径几乎完全相同，在光路中加入气室后，对两束光路的光程影响相同，因此两束光路的光程差不变，测量效果不变。

实验二 衍射现象的观察及空间光调制器演示实验

一．实验目的

通过本实验，使学生掌握衍射基本原理

二．实验原理

本部分实验均基于衍射理论，对应《工程光学》第十三章内容。光的衍射是光的波动性的主要标志之一，是傅立叶光学、衍射光栅和二元光学等的基础，它决定光学成象系统的分辨率，同时可以利用它进行精密测量。本实验所用缝元件共包含10种结构，通过对透射光的光强分布情况的测量和分析，了解掌握光的衍射理论。

三．仪器构成：

导轨式光学实验系统：

800mm导轨              1根；  二维可调半导体激光器              1个

单缝多缝元件            1个；  一维位移架                        1个

12档光栏探头            1个；  激光功率指示仪                    1台

导轨滑块                3个

四．实验步骤：

1.衍射现象的观察

(1)将导轨平稳地放置在一个坚固的平台上。

(2)将半导体激光器放置于导轨的一端，缝元件架紧靠激光器放置，将一维位置架放置在导轨的另一端，放上12档光探头并锁紧，调节光探头到一维位移架的中间区域。

(3)调整激光器指向方位和光探头的高低，使激光准确进入探测光栏孔。

(4)在缝元件架上放上缝元件，根据实验内容将要被测的缝或光栅调入光路，在光探头端就会出现衍射图案。

(5)旋转探头上的光栏盘使0.2mm缝光栏进入探测位置。

(6)转动一维位移架上的丝杠钮，使探头从一端向另一端进行扫描探测，并记录下光探头位置与功率的对应关系，绘制衍射光强分布曲线。

(7)观察不同结构对应的衍射图像。(至少两种, 拍照)

图14 圆孔衍射图像

图15 单缝衍射图像

表2 探头位置与光强数值的关系

探头位置/mm	97.69	98.00	99.00	99.30	100.24
光强数值	1.0	1.2	0.9	0.7	1.9
探头位置/mm	101.00	101.52	101.74	101.82	102.05
光强数值	5.8	8.4	12	10.6	5.6
探头位置/mm	102.50	102.60	102.7	103.10	103.36
光强数值	7.3	10	17.7	9.4	6.8
探头位置/mm	104.00	104.04	105.36	106.75	107.12
光强数值	2.9	0.9	0.8	1.1	0.9

图16 MATLAB拟合结果

可以观察到，探头从一端向另一端扫描的过程中，观察到左右各一级次极大和一级主极大。与理论图像不同的是，实际测得的主极大之中存在一处凹陷的图样，这个是由光栅板遮光部分不能完全遮光导致的。

实验三 偏振光的检测及椭偏仪演示实验

一．实验目的

通过本实验，使学生对偏振光的特性和偏振器件有一个基本的了解，同时了解偏振光在工程上的应用。

二．实验原理

 本部分实验均基于光及其元件的偏振特性，对应《工程光学》第十五章内容。通过二个偏振片和一个波片的组合，验证光是一种横波，具有偏振的特性。验证马吕斯定律、1/4λ波片的光学特性、旋光效应，测量半导体激光的偏振特性，了解椭圆偏振测厚仪的仪器结构和使用方法。从而领会光的偏振特性和双折射晶体的光学原理。

三．仪器构成

导轨式光学实验系统：

800mm导轨                                        1根

二维可调半导体激光器                             1个

激光功率指示仪                                   1台

显示屏                                      1个

偏振附件：

偏振片/波片架(含2个偏振片和1/4个波片)   1套

旋光晶片(包括调整架)                   1个

导轨滑块                                 5个

椭偏仪演示实验采用EX-2椭圆偏振测厚仪(北京量拓科技有限公司)：

EX-2椭圆偏振测厚仪外观

软件主界面

椭偏仪是通过非接触的方式测量探测光波在样品表面和界面反射前后偏振态的变化来得到材料的物理特性(如，折射率、消光系数)和层构信息(如，薄膜的厚度、表面微粗糙度)，已成为块状样品、尤其是纳米薄膜样品表征的基本手段。利用椭偏仪可测量纳米薄膜的膜厚、折射率n和消光系数k，也可测量块状材料的折射率n 和消光系数k。

采用消光法椭偏测量薄膜厚度和折射率：

下图为椭偏测量系统光路图， P(起偏器)-C(补偿器)-S(样品)-A(检偏器)，即PCSA 结构。约定如下：p轴为平行于入射面的方向，s轴为垂直于入射面的方向。

P-C-S-A椭偏测量系统光路图

激光器 L 发出单色光波；经起偏器 P 后成为线偏振光，偏振方向与 P 的透光轴一致；经四分之一波片C 后成为椭圆偏振光；经样品倾斜反射后光波的偏振态发生变化，一般还是椭圆偏振光；经过检偏器 A 后再次成为线偏振光，偏振光的方向与A的透光轴一致；最后光波进入光电探测器，经光电探测器转化后的电信号进入计算机中进行处理。

为了对样品进行定量测量，椭偏仪采用消光法获得椭偏角( Ψ， Δ)， 基本原理为：( 1)测量消光角：波片C 的方位角固定，不断调整起偏器 P 和检偏器A的透光轴位置，此时探测器 D 上得到的光强达到最小，即消光。在一个周期内 ( 0‐180°)，存在两对消光角(P01， A01)和( P02， A02)；设 P01<=P02，则P02‐P01=90°， A01+A02=180°。实际测量中采用在两对消光角下得到的椭偏角Ψ 和 Δ 值的平均，可以有效地消除系统误差。( 2)利用消光角与椭偏角( ψ， Δ)之 间的数学关系，就可以计算得到椭偏角。

进一步，对样品膜系建立物理模型，再利用直接计算法、查表法、拟合法等分析出样品的信息，如纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数等。

四．实验内容及步骤

1.半导体激光器的偏振特性：

导轨、激光功率指示计、二维可调半导体激光器、偏振架(检偏器)1个

①将激光器、偏振架(检偏器)、功率指示计光探头(用最大孔)依次排列。

②将激光器、功率指示计光探头分别与功率指示计相连。

③打开功率指示计电源，激光输出。调整激光指向和各架子的高度，使激光从偏振片的中心通过，进入功率指示计探头。

④  旋转检偏器，记录下功率最大值和最小值，以及所对应的角度，由此求出半导体激光的偏振度。

表3 功率最值及对应角度

最大值	角度	最小值	角度
1.4mW	285度	0.01mW	187度

由表格可得，半导体激光的偏振度为：

所以半导体激光为完全偏振光。

2.光的偏振特性以及马吕斯定律：

①将激光器、偏振架1(起偏器)、偏振架2(检偏器)、功率指示计光探头依次排列。

②旋转检偏器，记录下角度与功率的关系，绘制曲线，以验证马吕斯定律。

注意：半导体激光器输出的激光可能是一近似线偏振光，应注意起偏器的方位。

表4 检偏器角度与对应光功率

检偏器角度/度	285	265	245	225	205
光功率/mW	1.40	1.230	0.818	0.346	0.041
检偏器角度/度	185	165	145	125	105
光功率/mW	0.042	0.344	0.816	1.233	1.40
检偏器角度/度	85	65	45	25	5
光功率/mW	1.233	0.820	0.345	0.042	0.042
检偏器角度/度	345	325	305
光功率/mW	0.345	0.818	1.234

图17 MATLAB拟合曲线

图18 马吕斯定律理论曲线

通过实验数据拟合的检偏器角度与光功率关系曲线和用马吕斯定律拟合的曲线几乎重合，故验证了其符合马吕斯定律。

3.λ/4波片的光学特性：

①在实验2基础上，旋转检偏器使系统进入消光状态(功率指示计示数最小)。

②在起偏器与检偏器之间加入λ/4波片架，这时可能会有部分光通过检偏器。

③旋转λ/4波片，使系统重新进入消光状态。

④记下消光状态时的λ/4波片方位角度，并旋转45°。

⑤旋转检偏器记录下光强的变化。(对于理想状态光强应无较大变化，近似为一圆偏振光。)

实验中，消光状态时的λ/4波片方位角度为260度。

表5 检偏器角度与对应光功率

检偏器角度/度	0	30	60	90
光功率/mW	0.374	0.427	0.490	0.509
检偏器角度/度	120	150	180
光功率/mW	0.475	0.397	0.363

表19 MATLAB拟合曲线

光路中加入波片起到了相位延迟的作用。当线偏振光垂直入射波片，出射光为椭圆偏振光或圆偏振光，且当时，出射光为圆偏振光。

4.物质的旋光特性：

①在实验2的基础上，旋转检偏器使系统进入消光状态。

②将旋光晶体放入起偏器与检偏器之间，观察检偏器后的透光情况。

③旋转检偏器，使系统再次进入消光状态。计算旋光的角度，判断旋光晶片的旋向。求出晶体的旋光率。已知旋光晶体厚度l＝3mm。

表6 数据记录表格

放入旋光晶体前消光状态检偏器位置	放入旋光晶体后消光状态检偏器位置	旋光角度	旋向
346度	295度	51度	右旋

晶体旋光率

5.椭偏仪演示实验

通过教师讲解，了解椭圆偏振测厚仪的仪器结构和使用方法，加深对偏振光变换和分析、波片的应用以及偏振工程应用的理解。

实验中的问题及感想

在迈克尔逊干涉仪测量实验中，我们本来采用减少固定气压值记录干涉条纹移动条数的方法，发现实验误差比较大，这是因为干涉条纹移动条数没有精确的刻度进行测量，都是估读，造成了很大的读数误差。后来，在老师的提醒下，我们改用移动固定条数条纹测量气压表读数的方法，因气压表盘精度较高，我们读数的误差大大的减小了。

俗话说的好：“纸上得来终觉浅，绝知此事要躬行”。通过此次实验，我们掌握了搭建迈克尔逊干涉仪，萨格奈克干涉仪光路的方法，也亲自动手验证了课本上做学的有关光的偏振性的知识，收获颇丰。