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RSS订阅原创 IEEE 1149.1 学习笔记(四）
指令寄存器 IR指令寄存器允许指令移位到设计中。相关指令是用来选择即将执行的测试或者是对应TDR 的读取。IEEE1149.1 定义了强制性和可选择的指令，可实现特定设计指令的扩展。当然，IR 也可用于检查component 内部产生的特定设计信息检查。IR 是基于移位寄存器的设计，除了与串行输出最接近的两个寄存器单元外，还有可选的并行输入。在TAP controller Update-IR 状态下。指令被移位到寄存器中。IR 至少包含两位移位寄存器IR中的指令应被锁存，以便指令改变的影响只会发生在
2021-04-02 11:48:06
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原创 IEEE1149.1 学习笔记（三）
Test Mode Presistence Controller (TMP)TMP controller 提供一种使component 处于测试模式的方法，可以片上测试以及on-chip assisted 外接板级、系统及功能测试。当可选的TMP controller 存在时，TAP_PORreset 和 Test-Logic-Reset TAP controller reset 是不等价的。TMP controller 会使component 处于测试状态，即使TAP controller 状态机处于
2021-04-02 11:16:47
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原创 IEEE1149.1 学习笔记 （二）
测试逻辑结构测试逻辑中必须包含的元素：（1） TAP controller（2） 指令寄存器（3） 一组TDRIR & TDR 应有单独的移位寄存器传输路径，并行连接关系，有公共的数据输入/输出端口连到TAP TDI/TDOTAP Controller 通过TDI/TDO 控制IR/TDR 的切换与配置测试逻辑中也可以包含test mode persistence controller (TMP)此设计的重要特点：（1） TAP controller 既可以接收TCK 信号及.
2021-03-22 18:35:44
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原创 IEEE1149.1 学习笔记
[^1]本文仅用于自己学习笔记记录TAP 是一组通用端口，能够对基于此协议定义的测试逻辑提供对元器件的测试功能支持。最小组成：三输入（TCK，TMS，TDI）一输出（TDO）可选输入端口：TRST，提供测试逻辑的异步复位当测试逻辑能够在上电后建立Test-Logic_Reset状态或片上POR电路存在时，TRST并不是必需；否则，当上电后没有外部控制操作的情况下，TAP controller 状态无法确定，需要TRST 输入来完成初始状态的确定所有TAP端口应为dedicated，不可与其他端口复
2021-03-21 16:56:38
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原创 综合&后端 文件类型学习记录
文件类型.sdc.ddc.svf.GDSII.clf.lef.def.sdf.DSPF.RSPF.SBPF.SPF.itf.tluplus.nxtgrd.alf.PDEF.lib.db.MilkwayReference Link :link..sdc.ddc.svf.GDSII.clf.lef.def.sdf.DSPF.RSPF.SBPF.SPF.itf.tluplus.nxtgrd.alf.PDEF.lib.db.Milkway
2021-03-13 16:26:54
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空空如也
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