5. 测试逻辑结构
测试逻辑中必须包含的元素:
(1) TAP controller
(2) 指令寄存器
(3) 一组TDR
IR & TDR 应有单独的移位寄存器传输路径,并行连接关系,有公共的数据输入/输出端口连到TAP TDI/TDO
TAP Controller 通过TDI/TDO 控制IR/TDR 的切换与配置
测试逻辑中也可以包含test mode persistence controller (TMP)
此设计的重要特点:
(1) TAP controller 既可以接收TCK 信号及对TMS信号做出反应,也可以产生时钟和其它IR/TDR 等需要的控制信号
(2) TAP controller 控制操作(reset,shift,capture,update),指令提供操作对象
(3) 指令寄存器将指令移位到design中,选择对应操作的TDR
(4) IR需定义,且在TDI/TDO之间总存在一位TDR (bypass TDR)
(5)TDR 应包含一个bypass & boundary scan reg. 也可包含其他可选标准TDR: 如 device identification 。IR 选择TDR。
(6)可选TMP controller 接收TCK 及 IR 的解码,修改TAP controller 产生的一些控制信号。
测试逻辑的实现
TAP controller,和可选的TMP controller ,IR 及 控制指令的相关电路,TDR应为专有电路。若期望TDR 配置对片上系统逻辑不产生任何影响,则TDR相关电路应为专有电路。某些情况下,TDR可复用,比如device identification reg 和 boundary scan reg
6. 测试逻辑控制器
测试逻辑状态机 , 有限状态机
强制的TAP controller : 同步有限状态机,对T