概述
电子类产品(各类型芯片、SIP产品等)在大批量、长时间高低温环境中进行老练实验时,需要对待测件长时 间供电,并且能够实时监控、控制其自动断开、错误报警等,以避免人工测试带来的各种不可控风险。 本系统根据实际的测试需求,提供了完整的解决方案。输出端采用25×7路输出,输出接口为J30J系列接口, 用户可自行选择输出规模。各个通路之间为独立、隔离输出,每组输出为独立使能单元,可单独控制。在输出过程 中能够实时监控并显示每路输出状态、电压、电流及同一种电源输出的总电压、电流等信息。用户可自行定义输出 电压、电流的监测范围,当某路输出错误时可单独对相应通路进行关断,通过声、光、软件提示等多种方式进行报 警提示,并且全程记录所有输出信息,生成相关测试数据。系 统在工作过程中,通过内部检验、实时监测、多种关断逻辑处 理、以及硬件冗余设计等方式保证系统长时间工作的稳定性与 可靠性,满足用户长时间使用的测试需求。 系统采用模块化、单元化设计,通过标准化机柜构造, 可将多种电源输出模块类型进行集成,用于多电源需求场合。
应用场景
电子类产品研发阶段通电老练测试
SIP芯片类产品批量产品性能测试
各类型电子产品寿命测试