SAR ADC 比较过程中共模电平变化的原因及应对措施

不同的DAC的参考电压接法会导致DAC的浮动电压共模电平发生变化,导致对比较器的性能要求提高。

下面举个例子一个顶板采样的差分SAR ADC。
在这里插入图片描述

先进行置位,再比较(逻辑1)
采样阶段:VINP/VINN 接入,上下两排cap 全接Vrefp:
上面一排的采样电荷为:(Vinp-Vrefp)*4C (1)
下面一排的采样电荷为:(Vinn-Vrefp)*4C (2)
第一次转换,上面一排最高位接Vrefn,其它均接Vrefp,下面一排最高位接Vrefp,其它均接Vrefn。
上面一排的电荷为:(Vx-Vrefn)*2C+(Vx-Vrefp)*2C (3)
下面一排的电荷为:(Vy-Vrefp)2C+(Vy-Vrefn)2C (4)
(1)=(3)得到Vx=Vinp-1/2
(Vrefp-Vrefn) (5)
(2)=(4)得到Vy=Vinn-1/2
(Vrefp-Vrefn) (6)
所以(5)-(6)得到Vx-Vy=Vinp-Vinn,假设得到Vinp-Vinn>0,则得到第一个bit1=1,第一位的置位不用变。
第二次转换,然后把上面一排的第二位接Vrefn,后面不变。把下面一排的第二位接Vrefp,后面不变。
上面一排的电荷为:(Vx-Vrefn)*3C+(Vx-Vrefp)*1C (7)
下面一排的电荷为:(Vy-Vrefp)3C+(Vy-Vref

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