光信号的探测方式

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前言

光信号的探测方式：

光信号的探测分为直接探测和外差探测两种。

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一、直接检测

直接探测是直接将包括信息的光信号，利用光电探测器的光电转换功能实现信息解调的探测方式，响应的是信号的光强信息。直接探测方式因其系统结构简单，可靠且易于实现，在光通讯、激光测距、激光雷达、红外探测及成像等方面得到了广泛应用。

直接探测只能得到光功率的变化信息，不能得到光相位的变化。适用于强度调制的光信息检测

二、外差检测

1.光外差检测

光学外差检测是一种光频相干检测，是基于相干的参考光和信号光在光敏面上混频实现的。可用于光信息的强度，频率，相位调制检测。

光外差探测是将信号光和本振光同时入射到光电探测器的光敏面上，形成光场的干涉图样，光电探测器响应两光束的干涉光强，输出光混频信号。因此，光电流信号不仅与入射光的强度有关，还与其频率和相位有关，故又称之为相干检测。与直接探测相比，光外差探测有更高的探测灵敏度、更好的信噪比，在弱信号探测方面有更重要的应用价值。

2.光外差探测的基本原理

光外差探测的原理和无线电波外差接收的原理是完全相同的。假如待测光束和本振光束具有相同的极化，并相互准直地照射到探测器的均匀光敏面，其电场分别为：