【问题描述】
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
【输入格式】
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
【输出格式】
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
【样例输入】
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
【样例输出】
1 3
【思路】测试芯片的好坏,已知好芯片的数量比坏芯片多,从列开始遍历,如果每一列上好的次数多于总芯片数的一半,说明这是一个好芯片,否则是坏芯片。
【AC代码1】
#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
int n;
cin >> n;
int a[30][30];
for(int i = 1; i <= n; i++){
for(int j = 1; j <= n; j++){
cin >> a[i][j];
}
}
for(int i = 1; i <= n; i++){
int sum = 0;
for(int j = 1; j <= n; j++){
if(a[j][i]==1)
sum += a[j][i];
}
if(sum > n/2){
cout << i << " ";
}
}
return 0;
}
【AC代码2】
#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
int n;
cin >> n;
int a[30][30];
for(int i = 1; i <= n; i++){
for(int j = 1; j <= n; j++){
cin >> a[i][j];
}
}
for(int i = 1; i <= n; i++){
int sum = 0;
for(int j = 1; j <= n; j++){
if(i != j)
sum += a[j][i];
}
if(sum >= n/2){
cout << i << " ";
}
}
return 0;
}