14 芯片测试
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问题描述 :
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入说明 :
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出说明 :
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输入范例 :
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出范例 :
1 3
#include<stdio.h>
#include<memory.h>
int main(){
int n,i,j,sum;
int a[20][20];
memset(a,0,sizeof(a));
scanf("%d",&n);
for(i=0;i<n;i++){
for(j=0;j<n;j++){
scanf("%d",&a[i][j]);
}
}
/*
因为好芯片比坏芯片多,所以每一个芯片与其它芯片n个比较时,
只要测试的结果大于或等于n/2 就能证明这是好芯片,然后把芯片所在位置输出来即可
以每一列为单位,列值不变,遍历行,行中对应的列的值为1进行累加,sum超过一半即为好的芯片
*/
for(i=0;i<n;i++){
sum=0;
for(j=0;j<n;j++){
sum+=a[j][i];
}
if(sum>n/2){
printf("%d ",i+1);
}
}
return 0;
}