在分析仪中创建用户自定义的TRL校准件【以R&S矢量网络分析仪为例】

本文详细介绍了如何设计和验证TRL校准件,用于射频工程师使用网络分析仪进行精确测试。通过创建自定义校准件套件,包括设置连接器类型、添加校准标准,并考虑延迟线的影响,确保DUT两端性能的准确测量。完成校准后,通过S21和S11的性能验证,确认校准效果达到预期,从而能够进行有效的DUT测试。

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引言

射频工程师在使用网络分析仪测试前都需要先校准,校准的方法有很多,如SOLT、UOSM / TOSM、TRL校准等。其中SOLT校准只能校准到Cable端,不能校准到夹具(Fixture)的末端,当我们想要得到DUT两端的性能时,就需要与Fixture性能相配套的TRL校准件进行校准,校准之后再测试得到的就是DUT两端的性能。

一般情况下TRL校准件仪器厂商是不提供的,这就需要自行设计校准件并在分析仪里创建相应的TRL校准件套件,以下是具体步骤

步骤

  1. 点击Channel>Cal Devices>Cal kits… 之后如下图所示,先点击Add添加一个校准件套件,选择连接器类型时一定要与自己校准件上连接类型相匹配。这里我选择普通的SMA头,并给校准件命名User TRL,当然名字可根据自己喜好来命名,然后点击Standards添加校准件。

在这里插入图片描述

  1. 在Standards中添加各个校准件的名称,其中short和open件选择Reflect作为Type,f-f、m-f、m-m为校准件的阴头或阳头,根据校准件连接器类型选择匹配的连接头就好,如下图所示

在这里插入图片描述
tips:

参考资源链接:[SMD测量难题:同轴矢仪与端口延伸、TRL校准方法研究](https://wenku.csdn.net/doc/31q073tpcd?utm_source=wenku_answer2doc_content) 在电子测量领域,准确测量SMD器的S参数是一个具有挑战性的任务,特别是当涉及到微波射频领域时。为了解决由测试夹具引入的误差问题,TRL校准技术提供了一个精确的解决方案。TRL校准依赖于对两个传输标准和一个反射标准的精确测量,从而计算出12项误差系数,包括直通、反射和负载误差,这些误差系数用于修正测量结果。实施TRL校准时,首先需要准备适当的校准标准和精确的测量设备,矢量网络分析仪。然后,按照以下步骤进行操作:1. 使用已知特性阻抗的标准传输线(T)、反射器(R)和负载(L)进行校准。2. 确定校准系数,包括传播常数、反射和负载的S参数。3. 应用这些校准系数到测试设置中,以计算并补偿夹具引入的误差。4. 进行实际测量,并使用TRL校准数据对测量结果进行修正。通过这种方法,可以极大地提高对SMD器S参数的测量精度,从而为更准确的器模型创建和电路设计提供支持。建议参考《SMD测量难题:同轴矢仪与端口延伸、TRL校准方法研究》一书,获取更深入的理论知识和操作细节,以应对实际测量中的挑战。 参考资源链接:[SMD测量难题:同轴矢仪与端口延伸、TRL校准方法研究](https://wenku.csdn.net/doc/31q073tpcd?utm_source=wenku_answer2doc_content)
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