HALCON教程之【缺陷检测】-@龙熙视觉培训

本文详细介绍了HALCON的缺陷检测方法,包括边缘凹凸、内部污点等各类缺陷的检测,以及形态学中的区域差分、局部二值化等处理方式。同时,讲解了图像处理中的关键操作如仿射变换、频域处理、光学字符识别,并提供了具体的代码示例。
摘要由CSDN通过智能技术生成

HALCON教程之【缺陷检测】

1.缺陷分类:
  边缘凹凸、毛刺
  内部污点、内部凹凸、特定空洞、破损
  划痕(一般用低角度环形光和同轴光源)
    凸点一般用带角度的光源斜着打,背景打亮,凸点打暗。
    凹点一般用平行光从上往下打,背景打亮,凹点打暗。
2.缺陷处理的方式:
1 Blob+区域特征:cheak_blister.hdev(检测胶囊缺失和错误)
1 Blob+区域特征+差分:fin.hdev(边缘凸起的检测)
2 频域+空间域
3 光度立体法  
4  特征训练(分类器、深度学习)、OCV光学字符检测
5  测量+拟合:fit_rectangle2_contour_xld(矩形拟合)和measure_fill_level(测量液位高度)和align_measurements(检测剃须刀片断齿)
3.形态学中的区域Region差分
  增加像素:膨胀+闭运算,其中并运算是增加多一些
  减少像素:腐蚀+开运算,其中开运算是减少多一些
4.局部二值化
  这种用法适用于光照稳定、环境简单的现场
  mean_image (Image, ImageMean, 3, 3) //均值滤波,例如是33的模板,从图像左上角滑到图像右下角,每一点的像素值取临近9个像素值的平均值,这样可以使图像变得平滑和均匀,没有太大的凸起
  dyn_threshold (Image, ImageMean, RegionDynThresh, 5, ‘dark’) //5是offset,offset越大&

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