运算方法和运算器（+数据表示）

此为…方便个人的笔…记
浮点数表示：阶码 （移码）+ 尾数（原码）
1）——IEEE754标准
单精度：S + 8位偏指数E + 23位有效尾数M
双精度：S + 11位偏指数E + 52位有效尾数M
*指数采用偏移值，其中单精度偏移值为127，双精度为1023，将浮点数的阶码值变成非负整数，便于浮点数的比较和排序。
*对应的32为浮点数的真值可表示为：
**N = $(-1{)}^S$ × $2^{(}E-127)$ × 1.M

Q：IEEE754浮点数与对应真值之间的变换

e = E - 01111111（127）
还是用具体事例来看吧：
例：将十进制数20.59375转化成32位IEEE754格式浮点数的二进制格式。
解：
Step1 : 先将十进制数转化成二进制数：
20.59375 = 10100.10011
Step2 : 移动小数点，使其变成1.M的形式
10100.10011 = 1.010010011 × $2^4$
Step3：得到，
S = 0， e = 4， E = 100 + 01111111， M = 010010011
最后得到的32位浮点数的二进制存储格式为：
0100 0001 1010 0100 1100 0000 0000 0000
=41A4C000H

补充：十进制与二进制浮点数的转化！

2）数据校验的基本原理
——增加冗余码（校验位，增加码距），有效信息(k位)校验信息(r位)
①基本概念：同一编码中，任意两个合法编码之间不同二进制数位数的最小值。如：0011与0001的码距为1；0000、0011、0110、1001、1010、1100、1111等编码码距为2。（不同位的最小值）
②码距与检错或纠错能力的关系：
码距 ≥ e+1：可检测e个错误；
码距≥ 2t+1：可纠正t个错误；
码距≥ e+t+1: 可纠正t个错误，同时检测e个错误（e ≥ t）

3）奇偶检验
①基本原理——1.增加冗余码（检验码）；2.编码：根据有效信息计算校验信息位，是检验码 （数据 + 1位检验信息）中的1的个数满足奇/偶检验的要求。
②奇偶检验的特点：编码与检错简单；编码效率高；不能检错偶数位错误，无错结论不可靠，是一种错误检测码；不能定位错误，因此不具备纠错能力。
③改进的奇偶检验（双向奇偶检验、方块检验、垂直水平检验）的特点：
可纠正1位错误；可检测出某行（列）上的奇数位；可检测出一部分偶数位错误；不能检测出错码分布在矩形4个顶点上的错误。

4）CRC校验及其实现（又称循环冗余校验）（这块貌似还需要补充）
N = k + r ≤ $2^r$ - 1
生成多项式G(x), G(x)应满足的条件：
A.最高位和最低位必须为1；
B.当被传送信息(CRC码)任何一位发生错误时，被生成多项式做除后应该使余数不为0；
C.不同位发生错误时，模2除运算后余数不同；
D.对不为0余数继续进行模2除运算应使余数循环。

CRC编码：有效信息 + “余数”（模2除法得到的余数）

补充：模2除运算：
a)加/减运算（异或运算，加不进位，剪不借位）
0 ± 0 = 0, 0 ± 1 = 1, 1 ± 0 = 1，1 ± 1 = 0；
b)模2除法
按模2减，求部分余数，不借位
c)上商原则
①部分余数首位为1时，商为1，减除数；
②部分余数首位为0时，商为0，减0；
③当部分余数的位数小于除数的位数时，该余数即为最后余数。
例如：

eee,先这么看着吧。

5)海明校验及其实现
N = k + r ≤ $2^r$ - 1
a.校验位位于$2^{(}i-1)$位，其余依次放置被校验的数据位。~~~
b.设置指错字G4G3G2G1
…
海明校验特点分析：
a.指错字G4G3G2G1 = 0000 不一定无错（利用奇偶校验的特点去判断）
b.指错字不一定能区别一位错与两位错！
（具体见mooc视频例子分析）
改进：
在海明校验的基础上增加一位奇偶校验位