实验调试总结三

前言

实验目的：测试去掉RCD电路，查看在不同PWM斩波频率下，负载电阻两端的波形变化情况。
实验条件：电源电压24V，驱动电阻5R,驱动电压5V
电路原理图如下：

一、无RCD电路

一、PWM11.6KHZ

(1)负载电阻20R

(2)负载电阻50R

(2)负载电阻200R

在MOS关断瞬间，出现了很大的反压，负载越大，反压越大，最大以达到-2倍VCC，可能与MOS管质量、MOS管反向漏电流有关。

二、PWM116KHZ

（1）负载电阻20R

(2)负载电阻50R

(3)负载电阻200R

随着PWM频率的提高，脉间电压出现了波动，同时在MOS管关断瞬间产生负压很严重。

三、PWM1.16MHZ

（1）负载20R

（2）负载50R

（3）负载200R

PWM频率再次提高，随着负载电阻减小，波形越趋于方波，但是脉间波形波动严重。
不管是PWM频率大小（11K-1.1MHZ），在MOS管关断瞬间，始终存在这反压。在低频（11KHZ,116KHZ）接近电源电压两倍。在高频（1.16MHZ）时，反压接近电源电压。
分析：（1）在MOS管关断瞬间，MOS结电容、导线上寄生电感产生的反向电动势，叠加在负载一端，通过负载电阻反向流回电源。（2）关于脉间波动问题，在频率升到116KHZ时就存在这一问题了，始终存在这高频干扰信号。

二、RCD电路

对比之前做的实验，

（1）负载50R,电源电压24V

（2）负载50R,电源电压36V

电压与负载的比值越小，即总电流越小，波形相对越稳定，而这并不是想要的。同时同样的电路，在低频和在高频下情况还是不一样的，尝试了各种RCD_R,RCD_C的参数，发现RCD_R,RCD_C越大，波形效果越好，这也与理论不服，所以这个RCD并没有起到作用，反而起到了反作用。

总结

去掉RCD电路，目前还存在两个问题：
1.MOS管关断瞬间反压过大。
2.稳定脉间电压波动较大。