分治算法：芯片检测问题

一、问题描述

有n片芯片，其中好芯片比坏芯片至少多1片，现需要通过测试从中找出1片好芯片。测试方法是:将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果:“好”或者“坏”。假设好芯片的报告是正确的，坏芯片的报告是不可靠的 (即对于被测试的芯片显示的报告可能是坏或者好）。请设计一个算法，使用最少的测试次数来找出1片好芯片。
测试函数可以采用以下方法。

#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
#include <time.h>
//建立测试函数，参数i表示主动测试芯片， iB表示被测芯片.返回值为被测芯片的测试值
//值为1时表示好芯片，为0时表示坏芯片.
//应用随机数来表示不确定的值1、0.注意:在主函数中加上随机数种子语句srand(time(NULL));
//算法的输入可以用数组表示，比如:ABc[17]={1,0,0,1,1,1,0,0,1,1,1,1,0,1,0,0,0} 表示17个芯片，其中9片好芯片、8片坏芯片。
int X_test(int iA,int iB)
{
	if(iA==1)
		return iB;
	return rand()%2; 
}

二、问题分析

本问题采用的主要思想是分治策略。将n片芯片两两一组分成 $\lfloor \frac{n}{2}\rfloor$ (向下取整) 组，每组测试1次，通过第一轮的$\lfloor \frac{n}{2}\rfloor$ 的测试淘汰一部分芯片，剩下的芯片构成一个规模较小的子问题进入第二轮。如果测试的芯片不超过3片 (即子问题规模小于等于3) ，并且好芯片比坏芯片至少多1片，那么只要测试1次就可以找出好芯片。

而上面所说的淘汰规则需要符合好芯片比坏芯片至少多1片的条件，所以采用的淘汰规则是：
结果是情况1(下图)时，那么A、B中留1片，丢掉1片；如果时后三种情况，则把A和B全部丢掉。（在此不做证明）

情况	A报告	B报告	结论
1	B是好的	A是好的	A，B都好或A，B都坏
2	B是好的	A是坏的	至少1片是坏的
3	B是坏的	A是好的	至少1片是坏的
4	B是坏的	A是坏的	至少1片是坏的

具体算法思想步骤：

1、芯片数 n 等于2时，根据前面提的条件两片必然是好芯片，任取一片即可。
2、芯片数 n 等于3时 (两好一坏)，任取两片芯片做测试，若是情况2或3，没测的那个芯片必定时好芯片；若是其他情况，两个被测芯片必然是好芯片，则任取一片被测芯片即可。
3、芯片数 n 大于3时，分为两种情形i。n 为偶数时，芯片两两测试比较，在结果为情况1中取出一片另放，以便后续继续比较，若结果是情况2或3或4的都舍去(就是上面的淘汰规则)。n 为奇数时，取出一片芯片，然后将该芯片和其余的芯片进行一一比较，若比较结果为情况1的次数 $>\frac{n}{2}$,则该芯片为好芯片，反之则为坏芯片，将坏芯片删除后；(此时芯片数为偶数) 接着又回到上面说的 n 为偶数的情形。

三、算法代码

C语言：

#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
#include <time.h>

//建立测试函数，参数iA表示主动测试芯片， iB表示被测芯片.返回值为被测芯片的测试值 
//值为1时表示好芯片，为0时表示坏芯片.

int X_test(int iA,int iB)
{
	if(iA==1)
		return iB;
	return rand()%2;  
}

int test(int AB[],int n)
{
	int i, k,dM,iBack[n],iTmp,iC;//iBack保存AB数组中对应的编号 
	k=n;
	
	for(i=0;i<n;i++)
		iBack[i]=i;
	while(k>3)
	{
		iC=0;
		dM=k/2;
		if(dM*2<k)
		{//k为奇数,最后未分组的芯片被所有芯片测试1次
			iTmp=0;
			for(i=0;i<k-1;i++) 
			{
				if(X_test(AB[iBack[i]],AB[iBack[k-1]]))
					iTmp++;
			}
			if(iTmp>=dM)
				return iBack[k-1];
		 
		}
		for(i=0;i<dM;i++)
		{
			if(X_test(AB[iBack[2*i]],AB[iBack[2*i+1]])&&X_test(AB[iBack[2*i+1]],AB[iBack[2*i]]))
			{
				iTmp=iBack[2*i+rand()%2];
				iBack[iC]=iTmp;
				iC++;
			}

		}
		
		k=iC;
		
	}
	if(k==3) 
		if(!X_test(AB[iBack[0]],AB[iBack[1]])||!X_test(AB[iBack[1]],AB[iBack[0]]))
			return iBack[2];
		return iBack[rand()%2];
	if(k==2)
		return iBack[rand()%2];
	return iBack[0];
}

void main()
{
	int ABc[17]={1,0,0,1,1,1,0,0,1,1,1,1,0,1,0,0,0};//17
    srand(time(NULL));
	int iN,I1,I2;
	iN=test(ABc,17);
	printf("最少的测试次数为：%d",iN);
}

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