IC验证工程师高效战斗手册---开篇

大家好，从本文开始，杰瑞IC验证将以专辑的形式，为大家陆续发布一个文章系列，主题叫《IC验证工程师高效战斗手册》。

“手册”，工具者也。首先本专辑是一个工具。

“高效”，为本专辑谈论的核心，即提高验证效率。

“战斗”，是对工作的比喻，本专辑特指IC验证工作。往往战斗的工作状态才离不开高效。

所以综上，本专辑见名知义：是IC验证工程师，在高效率工作的时候使用的指导工具。

1、为什么要写这个主题？

“怎么提高验证效率？”这个问题，是IC验证工程师成长过程中一定绕不开的问题。

我们常在书籍或论文中看到类似的语言 “随着集成电路规模和复杂度不断增大，IC验证的难度、工作量也急剧增加，IC验证已成为影响芯片研发效率的关键环节之一，所以提高验证效率、减少验证时间变得非常重要。”

这句话虽然常见，但是其实对于一个新手来说也许只是一句空话，不一定能够真正的理解和体会。

体会不到的原因有很多，例如可能是你所在的团队做的产品并无太多市场压力，所以时间相对宽松，验证效率高低体现不出很大的影响；或者可能虽然整体有项目时间压力，但你手头上并没有同时负责太多的验证任务等等。

但是，一旦当你首次遇到某个项目时间很紧张、产品压力很大、或者需要同时负责很多个验证任务（这里提到的“很多个”，依照不同复杂度任务个数不一定，总之触及到了你的精力极限，即带上加班都觉得时间紧张有很大压力）的情况下，你一定会爆发性的对怎样提高验证效率，节省验证时间这个话题进行反思或者吐槽。

比如：“如果当时这里这么写就好了”…“这个测试用例这么构造耽误了太多的时间了，真是坑了”…“这个设计文档这块看的好费劲，早知道当时review时候坚持让他改”……

有人说，“难就难点儿吧，一咬牙过去了”。

其实，这种情况下，验证效率的重要性不仅仅关乎于验证工程师的心态和工作量，更关乎于芯片的质量。

在手忙脚乱或浮躁的状态下做出的工作，难免会动作不到位从而导致某本来可发现的bug从眼前逃走。

本在IC前端EDA仿真验证中就应该发现和解决的bug，在之后的其他IC研发环节中才发现，整个团队需要付出的代价更大，浪费了更多的时间甚至金钱（在后面流程中发现bug的时候你个人的压力其实也是很大的，需要你正在做别的项目的时候，捡起之前的项目，复现问题，同时进行反思和分析）。

从上面的举例相信各位可以窥一斑而知全豹，感受到提高验证效率非常重要。

提高了验证效率，对个人减少了工作量，多一份淡然；对芯片研发团队，提高质量，节省研发时间。

杰瑞IC验证创作本专辑《IC验证工程师高效战斗手册》的意义和初心，就是在于给广大即将入行或入行不久的IC验证工程师, 提供一个提高验证效率思想上以及行为上的武器。

我们期望：

如果你经历过前文提过的这种艰难阶段，但是没有及时深度的思考和沉淀，通过阅读本专辑，作出效率上的优化，在下一次遇到相同“困境”，可以从容应对。

如果你是如一张白纸的新手，目前没有前辈规范和指导你的工作习惯，通过阅读本专辑，从一开始就培养自己的高效意识和好的习惯，更好的应对未来可能出现的艰难时刻。

2、这个专辑都写些什么内容？

说到提高验证效率，很多人可能会先想到从验证手段或流程的角度来提高，比如ESL流程、形式验证等工具的引入……，又甚至想到更新的验证理论或新的验证语言。

这类内容本专辑也许会提及，但不是我们的重点。

我们的验证探讨出发点，还是基于当下主流的数字IC前端验证流程。即以SystemVerilog语言为基础、以UVM验证方法学为主要手段展开。

验证流程的提效可以看作团队的整体提效，而本专辑作为一个工具手册，更侧重于读者个人的提效。

杰瑞IC验证认为：验证高效之道，乃细节之道。即每一个环节快那么一点点，总体就会有一个很大的效率收益。

这个细节包括方方面面，例如：

怎么更高效的学习spec？

怎么更高效的提取测试点？

怎么更高效的进行验证有关会议，在不同会上你需要重点关注什么？

怎么更高效的分配验证时间？

更高效的设计搭建验证平台？

怎么样写的代码更好？

怎么更高效的规划和制造测试用例？

更高效的debug和bug管理分析？

更高效的回归测试？

更高效的覆盖率分析？

怎么更高效的与合作者沟通？

更高效的工作习惯细节？

更高效的工作小技巧？……

所以我们将探讨非常细节的东西，从代码怎么写，到事情怎么处理，从验证不同阶段应该怎么思考，到怎么更顺畅的工作交流。

不论是心法还是手段，都是我们期望拿出来讨论的。

3、怎么使用这个专辑

首先，本专辑作为一个工具手册，可以常常翻看进行思考。

对于没有实际项目经历的初学者可以提前思考和了解未来实战时的细节，为将来更好的适应验证工作打下基础。

新入行的工作者可以结合自身项目进展，重点关注涉及到的文章，反思和实战尝试。

更重要的一点是，本专辑在已有内容的基础之上是开放的。

本系列文章重点在于传递高效验证的意识和方法，使更多的初学者受益。希望大家也可以积极的参与讨论和分享自己的心得。

针对于某个话题也许你有更高效的处理方式或小技巧，希望可以及时的留言或联系我们，有可能的话，我们可以就某一个话题以参与者的名义一起补充专辑文章内容，把更好的提高验证效率的技巧纳入体系分享给更多的读者，一起为中国半导体事业出贡献一份力量。

路漫漫其修远兮，吾将上下而求索。

杰瑞IC验证与你同在，加油！

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