Lumerical之使用sweep进行扫参分析

为了寻找性能较好的结构，使用lumerical软件设计光学器件常常使用的一个功能就是sweep，也即扫参，下面以分析Si材料Slab厚度对透射率、反射率的影响介绍sweep功能。

由于Si相较于空气是个高折射率比的材料，因此，当光直接从空气入射Slab时容易在空气与Slab的交界面处形成反射，通过改变Slab的厚度可以调整两处交界面的反射光的干涉效果，如下图所示：

创建仿真结构

这里以XY视角观察仿真结构，主要是Si slab，光源，FDTD仿真区以及分别监测反射率、透射率的两个监视器R和T。FDTD区域X轴设置为反对称边界条件，Z轴设置为对称边界条件。（仿真文件可从文末获取）

下一步，选择需要扫参的对象，这里是Slab的厚度，以及y轴方向的y max-y min。为方便观察和扫参，将该参数定义在model中，如下图所示：

同时在Script中使用脚本，将thick_Si与Slab结构关联起来：

调用sweep功能

如下图所示，首先进入Optimization and Sweeps，随后添加sweep，右击编辑sweep，这里命名为thick_sweep，同时扫参点设置为11个，扫参对象为model中的thick_Si，最后，在Result部分一定不要忘了选择需要检测的结果，这里分别观察监视器R和T的T值，也即反射率和透射率。

观察扫参结果

图左为透射率（由于光源向下入射，故为负值），图右为反射率。可以看到随着Slab厚度变化，透射率在30%~90%之间波动，反射率在0%~70%之间波动。如果需要对厚度精度更高一些，可以将sweep的点数增加，下图为增加至51个点之后的结果：

综上为Lumerical软件sweep功能使用方法，如有错误还请指正。
仿真文件附在百度云中供参考
提取码：q94z