晶振测试步骤

一、按照晶振规格书填写好样品信息
二、测试流程
1、样品尺寸：使用游标卡尺测量
2、计算匹配电容值：
C1,C2为计算匹配电容值；CL为规格书上的标准匹配电容值（负载电容），根据下面的公式可计算出大致的实际匹配电容值，以计算结果作为参考，上下调整。

3、新物料匹配电容测试（一块PCBA即可）：
A.选择一款合适的PCBA
B.烧录程序：
—32MHz：烧录测试程序；
频谱仪设置（2440MHz；200kHz；5dBm）
—32.768kHz：烧录相应的1K方波测试程序
频谱仪设置（32.768kHz；100Hz；-50dBm）
C.更换晶振匹配电容值
—32MHz：在频谱仪记录其2.4G频偏、功率及32MHz频偏及功率
—32.768kHz：在频谱仪记录其32.768kHz频偏和功率；在示波器记录其1K方波频率和起振时间
D.—32MHz：综合频偏最小，起振时间最短的匹配电容为新物料最佳匹配值
—32.768kHz：综合频偏最小，起振时间最短的匹配电容为新物料最佳匹配值
4、新样品与原样品在常温、高温、低温情况下的频偏及温度特性：
A.需要(a) 4pcs换上新物料及新物料最佳匹配电容
(b) 4pcs换上新物料，匹配电容值和原物料一致
© 4pcs原物料及原匹配电容值