【天线专题】史密斯（Smith）圆图

        对一个器件进行表征时，所发生的反射大小取决于入射信号“看到的”阻抗。由于任何阻抗都能用实部和虚部（R+jX 或 G+jB )表示，故可以将他们绘制在所谓复阻抗平面的直线网络上，如下图所示。遗憾的是，开路（一种常见的射频阻抗）在实轴上表现为无限大，因而无法表示出来。

        极坐标图由于包括了整个阻抗平面因而具有重要使用价值，然而，它并不直接绘出阻抗曲线，而是以矢量形式显示出复反射系数，矢量的大小对应于距显示器中心的距离，而相位则显示为矢量相对于从中心到右边沿水平直线的角度。极坐标图的缺点是不能直接从显示读取阻抗值。

        由于复阻抗于反射系数两者直间有一一对应的关系，故复阻抗平面的正实半部分可以映射到极坐标显示上。结果便形成了史密斯圆图。所以电抗值和从0到无限大的所有正电阻值均落在史密斯圆图内。如下图所示的演化过程：