TRPL Mapping系统简介:
时间分辨荧光寿命共聚焦显微成像及光谱系统 MicroTime100 & FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起,能实现几百nm的空间分辨率和ps~s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测:荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区(时间分辨)荧光成像和(时间分辨)光谱,并且支持升级单分子光谱功能(闪烁,反聚束)、拓展了FLIM和红外部分,完全适用于诸多薄膜、纳米材料的研究,是研究时间分辨光致发光的理想工具。
TRPL Mapping系统工作原理图:
TRPL Mapping系统产品组合:
主要特点:
• 在共聚焦成像基础上,可选点做微区PL、TRPL测试
• 半导体激光器波长从375nm到1060nm可选
• 可配置多个单光子探测器,用于反聚束检测
• 纳米级XYZ 扫描台
• 几百nm的空间分辨率,皮秒到秒级别的寿命测量范围
• 探测波长范围从350nm至1000nm可选,可扩展至1700nm
• 高配版光谱仪支持氙灯激发,低温和量子产率扩展
主要功能:
• 荧光寿命成像 (FLIM)
• 磷光寿命成像(PLIM)
• 荧光共振能量转移(FRET)
• 模式匹配分析
• 时间分辨光致发光(TRPL)
• TRPL 成像
• 反聚束效应
主要应用:
• 单分子光谱/探测
• 单线态氧研究
• 荧光上转换
• 荧光各向异性研究
• 稳态荧光光谱测量
• 量子产率测量
• 光化学研究
• LEDs,OLED,量子点检测
应用实例:
1、TRPL for Semiconductor Analysis—Device Architecture Characterization
用于半导体分析的TRPL——器件结构表征
2、CIGS MAPPING
对CIGS材料的mapping,通过荧光寿命的分析,可以直观看出缺陷
3、perovskite solar cells
4、Carrier diffusion
GaAsP 量子阱系统中的载流子扩散
卤化物钙钛矿晶体中的载流子扩散
通过对时间和三维空间的4维数据的采集,可以可视化半导体/太阳能电池不同区域和深度的载流子扩散。因此,它们可以揭示载流子扩散的局部变化以及诸如载流子缺陷和晶体边界等微尺度的异质性。
产品参数:
时间分辨荧光寿命共聚焦显微镜部分 | |
激发模块 | ·带紧凑型光纤耦合单元的半导体激光器(功率/重复频率可调,最大80MHz) |
·波长范围 375-1060nm | |
·支持单通道或多通道驱动 | |
显微镜模块 | · Olympus BX正置显微镜 |
·已包含透射照明部件 | |
·手动样品载物台 | |
物镜规格 | ·标准20X和40X物镜 |
·可选多种特殊物镜(水/油镜,红外/紫外强化,超长工作距离型等) | |
扫描方式 | · 三维XYZ压电物镜扫描,扫描范围为80µm x 80μm x 100µm,标称定位精度1nm,以物镜扫描方式安装 |
·可选厘米级别大范围扫描台 | |
主要光学部件 | ·具有多达四个用于PMA和PMA Hybrid检测器的并行检测通道,两个用于SPAD检测器的检测通道 |
·预对准可更换型主二向色镜架 | |
·所有光学元件都可更换和调节 | |
探测器 | ·单光子雪崩二极管(SPAD) |
·混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) | |
·光电倍增管(PMT) | |
数据采集方式 | ·基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 |
·最多支持独立双通道同步采集 | |
交互软件 | ·SymPhoTime 64(用于FLIM和FCS) |
·EasyTau 2 (单点的寿命测量) |
时间分辨荧光寿命光谱部分 | |
光学结构 | ·L型 |
工作模式 | ·稳态、TCSPC和MCS |
灵敏度 | ·典型信噪比优于29000:1 (PMA 175探测器),激发和发射光路中使用双单色仪,基于水拉曼光谱,激发波长350nm,光谱带宽5nm,积分时间1s |
荧光寿命范围 | ·<40ps到10μs,采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块; |
·<10ps到10µs,采用Hybrid系列探测器、TCSPC模式的计数模块和合适的激光器; | |
·<10ps到10µs,采用MCP-PMT系列探测器、TCSPC模式的计数模块和合适的激光器; | |
·大于几百ms,采用任何探测器和MCS模式的计数模块。 | |
激发光源 | ·皮秒脉冲半导体激光器或者LED,波长范围260 nm - 1990nm,重复频率高达80MHz,普通激光器驱动单元; |
·高功率紫外激光器(VisUV, VisIR) | |
·亚微秒氙灯; | |
·300W CW同轴氙灯; | |
·外接激光器,如钛宝石激光器、脉冲DPSS激光器或超连续白光激光器; | |
单色仪 | ·Czerny-Turner结构, |
·聚焦长度:单单色仪聚焦长度为300mm,单出口或者双出口; | |
·1200g/mm光栅,闪耀波长为500nm; | |
·狭缝宽度在0mm和10mm之间可调(连续可调,完全机动化),色散2.7 nm/mm(单个300mm焦长单色仪) | |
·杂散光抑制比典型值1:10-5(单单色仪),1:10-8(双单色仪)。 | |
探测器 | ·光电倍增管PMT系列,185~920nm可选; |
·微通道光电倍增管MCP-PMT系列,185~910nm可选; | |
·UV/VIS - NIR PMT覆盖波长范围 200~1010nm可选; | |
·近红外光电倍增管NIR-PMT系列,950~1700nm可选; | |
·混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列,200~900nm可选。 | |
软件 | ·操作简单,功能全面,基于Windows系统的分析软件; |
·在工作区数据归档,数据导出功能和数据运算; | |
·几种典型测量方案的程序向导功能; | |
·全设备的数据采集和测量序列的脚本语言; | |
·荧光寿命光谱分析基于数卷积处理,高至四阶指数的衰减函数,含杂散光校正,寿命分布曲线,各向异性 | |
·测试,全局分析,严密错误分析等功能。 |