首先,通过来自德国PicoQuant公司的荧光寿命成像显微镜MicroTime 100和荧光寿命光谱仪FluoTime 300的强强联合,既能直接观察电荷载流子动力学。
如何通过寿命成像技术可以研究载流子动力学,例如,可以通过强度相关的光致发光寿命测量,确定载流子扩散的影响以及其对总体寿命的影响。然后在利用时间分辨光致发光成像,又可以识别载流子扩散过程、局部不均匀性和缺陷位点的影响。因此,通过这种多维度的方法,就能实现对半导体/钙钛矿材料进行多功能而强大的分析。
荧光寿命成像显微镜MicroTime 100和荧光寿命光谱仪FluoTime 300系统结构图:
TRPL成像示例图:
示例:
为什么要研究光伏和层状结构中的载流子扩散过程?
▪通过光感应(如cw或脉冲激光)产生载流子
▪扩散长度是载流子产生和重组之间的平均长度
▪扩散长度可根据载流子(PL)寿命测量和计算:
𝑳=Dτ
L = 扩散长度[cm]
D = 扩散率 [cm²/s] (对于 Perovskites,通常为 0.005-2 cm²/s)
τ = (PL) 寿命 [s]
▪寿命越长,说明扩散长度越长,半导体材料的质量越高/重组过程的规模越大。
▪重组率取决于材料中缺陷的数量:
- 掺杂会增加太阳能电池中的缺陷
- 高掺杂与重组率、较短的寿命和扩散长度有关
对于寿命在 10 -100 ns 之间的 Perovskite,扩散长度为 1 -3 µm
所以,通过PL寿命测量确定扩散长度是确定光伏电池质量和重组率的另一种技术。