蓝桥杯基础25：BASIC-23 VIP试题 芯片测试

题目描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。 
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。 
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。 
输入
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。 
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i,  j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本  身进行测试）。 
输出
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 
样例输入
3 
1  0  1 
0  1  0 
1  0  1 

样例输出
1 3
代码
由于，题目中已经说好的芯片多余坏的芯片，所以将各个芯片依次被其他芯片测试，一定是多数测试为好或者多数测试为坏。

#include<stdio.h>
 
int a[ 21 ][ 21 ];
 
 int main()
{
     int n;
     int i , j;
     scanf("%d",&n);
     for(i = 1 ; i <= n ; i ++)
     {
         for(j = 1 ; j <= n ; j++)
         {
             scanf("%d",&a[ i ][ j ]);
         }
     }
     int x=0;
     for(j = 1 ; j <= n ; j ++)
     {
         for(i = 1 ; i <= n ; i ++)
         {
             if(a[ i ][ j ]==1)x ++;
         }
         if(2 * x > n)printf("%d ",j);
         x = 0;
     }
    
     return 0;
} 

原文链接：https://blog.csdn.net/zhangge138/article/details/79472489