蓝桥杯 basic23试题 基础练习 芯片测试

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蓝桥杯 basic23试题 基础练习 芯片测试

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问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

错误思路

刚开始的思路是从小的矩阵开始推演，后来发现只要是关于斜对角线对称的就可以互证正确性，而且发现只有一个芯片被大于2次证明是真的，就可以证明它是真的，于是就有了错误的代码

遇到的问题

思路不够周全最后导致有很多的遗漏问题，比如互为对角线的两个到底哪个才是正确的，因为在其他行还有很多的可能性，虽然最后我按照案例样本通过了，但是还是没有真正搞清楚

错误代码

import java.util.Scanner;

public class Main {
   

    public static void main(String[] args) {
   
        Scanner scanner = new Scanner(System.in);
        int n = scanner.nextInt();
        int[][] a = new int[n][n];
        int[] flag=new int[n];
        for (int i = 0