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比如测试数据总线建立时间（DBST），就将它设置为规格书定义的数值，而将其他参数放宽，运行相应的功能向量，如果测试fail，则我们马上知道是数据总线建立时间导致。按照规格书将所有的AC时序参数设置为最差情形，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试，但是在有fail出现时无法直观地显示错误的来源或原因。需要进行AC测试，按照规格书上设定时序参数和信号格式，通过运行一段功能测试向量，实现AC参数的测试。参数十：需要比较或者测量的管脚，被省略，则说明比较测量pattern中出现的所有管脚。
2024-06-25 10:05:43
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原创 IDD测试--Static IDD
静态指器件处于非活动状态，IDD 静态电流就是指器件静态时 Drain 到 GND 消耗的漏电流。静态电流的测试目的是确保器件低功耗状态下的电流消耗在规格书定义的范围内。2）在单颗 DUT 上重复测试时，静态电流测试的结果应该保持一致性，且将 DUT 拿开再放回重测的结果也应该是一致和稳定的。VIL、VIH、VDD、向量序列和输出负载等条件会影响测试结果，这些参数必须严格按照规格书的定义去设置。1）运行一定的测试向量将器件预处理为已知的状态后进行 ，低功耗状态。2）去测量流入 VDD 的电流。
2024-06-22 00:30:00
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原创 IDD测试- IDD 之和——Gross IDD
IDD测试分为动态和静态俩种电流，动态 IDD 是器件在正常工作时，Drain 对 GND的漏电流，静态 IDD 是器件在静态时 Drain 对 GND 的漏电流。在 COMS 电路中称为 IDD，在 TTL 电路中称 ICC。
2024-06-21 18:27:41
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原创 DC测试之VOH/VOL测试
许多 DC 测试或验证都是通过驱动电流测量电压或者驱动电压测量电流实现的，其实质是测量电路中硅介质产生的电阻值。当测试模式为驱动电流时，测量到的电压为这部分电阻上产生的电压；与之相似，驱动电压时，测量到的电流为这部分电阻消耗的电流。
2024-06-21 00:15:00
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原创 开短路测试（Open-Short Test）
用以确认器件测试时所有的信号引脚都与ATE相应的通道都完成了电性能上的连接，并且信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。用PMU抽取-100uA的电流，设置Limit=（-1.5V,-0.2V）,因为ESD防静电保护二极管的导通压降约为0.7V，检测连接点的电压判断结果。快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。另外，在测试开始阶段， Open-Short 测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，都置0，钳位电压设置为3V,
2024-06-20 15:22:14
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原创 CP&FT测试介绍
1、 Probe card(探针卡负责固定探针和晶圆直接接触，主要是控制卡(PCB)和探针两个部分。目的是将探针卡上的探针直接与晶片上的pad或者bump直接接触，引出晶片信号再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化测量读取芯片电信号的目的。3探针作用：将测试机的信号接入并将其传递到针尖端；通过探针接触PAD，完成电信号的施加和读取。
2024-06-16 15:33:58
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原创 ATE测试简介
ATE是Automatic Test Equipment(自动化测试设备)的英文缩写，是一种通过计算机控制进行批量器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。首先我们需要在脑海中构造出一套ATE测试的流程，那么这个流程就是一种道，至于测试设备这些就是术，已道驭术，术必成，离道之术，术必衰。测试设备：测试机，probe card（探针卡），load board以及prober（探针台），好了，这一章就到这里，下面一章会对CP/FT测试进行介绍。1.什么是ATE测试？
2024-06-15 15:35:24
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空空如也
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