IDD测试- IDD 之和——Gross IDD

        IDD测试分为动态和静态俩种电流，动态 IDD 是器件在正常工作时，Drain 对 GND的漏电流，静态 IDD 是器件在静态时 Drain 对 GND 的漏电流。

        在 COMS 电路中称为 IDD，在 TTL 电路中称 ICC。

 IDD 之和——Gross IDD

        Gross IDD 测量的是器件 VDD 和地之间的总的阻抗，

 一、CP 测试中肯定存在，在 FT 测试中也可能包含，它测量的是流入 VDD 管脚的电流。

二、 Gross IDD 的边界我们通常放得很宽。放宽到手册边界参数的2-3倍。                                              ”IDD Current Limit”这个参数。

1），Reset 器件或者将所有的输入管脚设置为固定的状态——低或者高，VIL 设置为 0V，
        VIH 设置为 VDD。

2）所有的输出管脚与负载断开——输出电流会增加 IDD 的测量值从而引起误判。

3）正确地并且尽可能简单地预处理相应的功能，使器件进入稳定的状态。接下来就是测量进入
       器件的整体供电电流了，电流超出界限则表示功耗过大、器件失效，直接退出测试并被丢弃。

问题排查：

1）初次开发时，如果发现 IDD 测试很大，建议用万用电表测量没有放 IC 时，测试 socket 上电源到地的电阻，如果电阻比较小，说明你焊接可能导致有些虚短，要查下电路；

2）其次在电源端加上 VDD，看是否电压有被拉下的情况。

3）通常 VDD pin 会放置 bypass 电容，电容的作用是滤波，滤掉高频的成分，但是电容有时也会影响 IDD 的测试，比如电容被击穿，电容过大但 DELAY 时间给的不够，导致电压在没有上升到 VDD 的时候进行测量。

4）还有 IC 与测试座接触不好的时候，也会导致 IDD 较大。

解决方案

当测试不通过的情况发生，我们要就要找找非器件的原因了：将器件从 socket 上拿走，运行测试程序空跑一次，测试结果应该为 0 电流；如果不是，则表明有器件之外的地方消耗了电流，我们就得一步步找出测试硬件上的问题所在并解决它，比如移走 Loadboard 再运行程序，这样就可以判断测试机是否有问题。我们也可以用精确点的电阻代替器件去验证测试机的结果的精确度。