大学生电子设计竞赛中的自动化测试与测量技术（内附资料）

大学生电子设计竞赛是一个技术密集型的竞赛，它要求参赛者在有限的时间内完成一个既定的电子系统设计。自动化测试与测量技术在这一过程中扮演着至关重要的角色，它不仅可以提高测试效率，还可以增加测量的准确性和重复性。本文将探讨自动化测试与测量技术的实现方法，并给出相关的代码示例。

1. 引言

在电子设计竞赛中，自动化测试与测量技术是确保设计满足性能要求的关键。自动化测试可以减少人为误差，提高测试速度，而精确的测量是系统性能评估的基础。

2. 自动化测试系统的组成

• 测试硬件：包括信号发生器、示波器、多用电表、逻辑分析仪等。
• 控制软件：用于生成测试信号、采集测量数据、分析测试结果。
• 接口：连接测试硬件与被测设备的标准接口，如 GPIB、USB、以太网等。

3. 自动化测试的关键技术

• 信号同步：确保测试信号的准确性和同步性。
• 数据采集：高速、高精度地采集被测设备的数据。
• 结果分析：对采集到的数据进行分析，判断是否满足设计要求。

4. 代码实现

4.1 信号发生器控制代码

以下是一个使用STM32微控制器产生测试信号的示例代码：

#include "stm32f10x.h"

// 假设使用PWM产生测试信号
#define PWM_CHANNEL GPIO_Pin_8
#define PWM_GPIO_PORT GPIOB

void PWM_Test_Signal_Init(void) {
    TIM_TimeBaseInitTypeDef TIM_InitStructure;
    GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
    RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOB | RCC_APB1Periph_TIM2, ENABLE);

    // 配置GPIOB8为PWM功能
    GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = PWM_CHANNEL;
    GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AF_PP;
    GPIO_InitStructure.GPIO_Speed = GPIO_Speed_50MHz;
    GPIO_Init(PWM_GPIO_PORT, &GPIO_InitStructure);

    // 配置TIM2为PWM模式
    TIM_InitStructure.TIM_Period = 999; // 定时器周期
    TIM_InitStructure.TIM_Prescaler = 71; // 预分频器
    TIM_InitStructure.TIM_ClockDivision = 0;
    TIM_InitStructure.TIM_CounterMode = TIM_CounterMode_Up;
    TIM_TimeBaseInit(TIM2, &TIM_InitStructure);

    TIM_OCInitTypeDef TIM_OCInitStructure;
    TIM_OCInitStructure.TIM_OCMode = TIM_OCMode_PWM1;
    TIM_OCInitStructure.TIM_OutputState = TIM_OutputState_Enable;
    TIM_OCInitStructure.TIM_Pulse = 500; // 设置PWM占空比
    TIM_OCInitStructure.TIM_OCPolarity = TIM_OCPolarity_High;
    TIM_OC2Init(TIM2, &TIM_OCInitStructure);

    TIM_ARRPreloadConfig(TIM2, ENABLE);
    TIM_Cmd(TIM2, ENABLE);
    TIM_CtrlPWMOutputs(TIM2, ENABLE);
}

int main(void) {
    PWM_Test_Signal_Init();
    while (1) {
        // 根据测试需求调整TIM_Pulse的值来改变PWM占空比
    }
}

4.2 数据采集与处理

以下是一个使用STM32微控制器进行数据采集和处理的示例代码：

#include "stm32f10x.h"

// 假设使用ADC进行数据采集
#define ADC_CHANNEL GPIO_Pin_0
#define ADC_GPIO_PORT GPIOA

void ADC_Init(void) {
    ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;
    GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
    RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1 | RCC_APB2Periph_GPIOA, ENABLE);

    // 配置GPIOA0为模拟输入
    GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = ADC_CHANNEL;
    GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AIN;
    GPIO_Init(ADC_GPIO_PORT, &GPIO_InitStructure);

    // 配置ADC
    ADC_InitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
    ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE;
    ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ENABLE;
    ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = 0;
    ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;
    ADC_InitStructure.ADC_NbrOfChannel = 1;
    ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure);

    ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_3Cycles);
}

uint16_t ADC_Read(void) {
    ADC_Start(ADC1);
    while (!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC));
    return ADC_GetConversionValue(ADC1);
}

int main(void) {
    ADC_Init();
    while (1) {
        uint16_t adcValue = ADC_Read();
        // 对采集到的ADC值进行处理和分析
    }
}

5. 自动化测试系统的优化

• 模块化设计：将测试系统设计成模块化，便于扩展和维护。
• 自动化脚本：编写自动化测试脚本，实现一键测试。
• 实时监控：实现测试过程的实时监控和异常报警。

6. 结论

自动化测试与测量技术在大学生电子设计竞赛中发挥着至关重要的作用。通过实现自动化测试系统，可以显著提高测试效率和测量精度，从而提升设计质量。

7. 参考文献

1. National Instruments. (2019). Automated Test and Measurement Systems.
2. STMicroelectronics. (2011). STM32F103C8T6 datasheet.

✅作者简介：热爱科研的嵌入式开发者，修心和技术同步精进

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